Uw zoekopdracht naar Aftastingselektronenmicroscopen
Aantal gevonden signaleringen: 14

Rasterelektronenmikroskop

Die Hochschule Aalen beschafft ein Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop. Die Beschaffung dient zur effizienten hochauflösenden Analyse von Funktions-/ Strukturmaterialien, speziell sauerstoffempfindlichen Energiespeicher- und -wandlermaterialien am Institut für Materialforschung (IMFAA).

CPV: 38511100 Aftastingselektronenmicroscopen
Plaats van uitvoering:
Rasterelektronenmikroskop
Toekennende instantie:
Hochschule Aalen - Technik und Wirtschaft
Gunningsnummer:
2024/25
Publicatie:
6 juni 2025 12:07
Skenējošā elektronu mikroskopa piegāde un rentgenstaru enerģijas dispersijas spektrometrijas (EDS) detektora uzstādīšana

Skenējošā elektronu mikroskopa piegāde un rentgenstaru enerģijas dispersijas spektrometrijas (EDS) detektora uzstādīšana Skenējošā elektronu mikroskopa piegāde un rentgenstaru enerģijas dispersijas spektrometrijas (EDS) detektora uzstādīšana

CPV: 38511100 Aftastingselektronenmicroscopen
Plaats van uitvoering:
Skenējošā elektronu mikroskopa piegāde un rentgenstaru enerģijas dispersijas spektrometrijas (EDS) detektora uzstādīšana
Toekennende instantie:
Valsts tiesu ekspertīžu birojs
Gunningsnummer:
VTEB2025/02
Publicatie:
3 juni 2025 14:40
Acquisition, installation, paramétrage et mise en ordre de marche d’un microscope électronique à balayage (MEB) couplé à un détecteur EDS et prestations connexes

Acquisition, installation, paramétrage et mise en ordre de marche d’un microscope électronique à balayage (MEB) couplé à un détecteur EDS et prestations connexes Acquisition, installation, paramétrage et mise en ordre de marche d’un microscope électronique à balayage (MEB) couplé à un détecteur EDS et prestations connexes

CPV: 38430000 Detectie- en analyseapparatuur, 38511100 Aftastingselektronenmicroscopen, 50411000 Reparatie en onderhoud van meetapparatuur
Deadline:
3 juli 2025 16:30
Soort termijn:
Indiening van een bod
Plaats van uitvoering:
Acquisition, installation, paramétrage et mise en ordre de marche d’un microscope électronique à balayage (MEB) couplé à un détecteur EDS et prestations connexes
Toekennende instantie:
MINISTERE DES ARMEES Case n° 51
Gunningsnummer:
24M0088
Publicatie:
31 mei 2025 03:03
Suministro e instalación de un Equipo de Microscopía y Litografía por Electrones de bajo voltaje con Stage Interferométrico y capacidades para Metrología, destinado al Instituto de Microelectrónica de Barcelona de la Agencia Estatal Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC).

Según se indica en la memoria justificativa de las especificaciones técnicas, en la memoria justificativa de la necesidad de contratar, y en el pliego de prescripciones técnicas. Según se indica en la memoria justificativa de las especificaciones técnicas, en la memoria justificativa de la necesidad de contratar, y en el …

CPV: 31712100 Micro-elektronische machines en toestellen, 38511100 Aftastingselektronenmicroscopen, 42990000 Diverse machines voor specifieke doeleinden
Deadline:
23 juni 2025 14:00
Soort termijn:
Indiening van een bod
Plaats van uitvoering:
Suministro e instalación de un Equipo de Microscopía y Litografía por Electrones de bajo voltaje con Stage Interferométrico y capacidades para Metrología, destinado al Instituto de Microelectrónica de Barcelona de la Agencia Estatal Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC).
Toekennende instantie:
Presidencia de la Agencia Estatal Consejo Superior de Investigaciones Científicas, M.P.
Gunningsnummer:
33398/25
Publicatie:
24 mei 2025 03:03
Fourniture de matériels scientifiques pour la création d'une halle de TP « matériaux », dans le cadre du projet CMA (Compétences et Métiers d'Avenir) 3NC (Normandie, Nucléaire, Nouvelles Compétences)

Fourniture de matériels pour la création d'une halle de TP « matériaux » pour le Master « Sciences de la matière », dans le cadre du projet CMA (Compétences et Métiers d'Avenir) 3NC (Normandie, Nucléaire, Nouvelles Compétences). Il a pour objet la fourniture de matériels neufs. Il comprend les 15 …

CPV: 31711520 Delen van elektrische weerstanden, reostaten en potentiometers, 35121300 Beveiligingsbenodigdheden, 38000000 Laboratoriuminstrumenten, optische en precisie-instrumenten (uitgezonderd brillen), 38341400 Geigertellers, 38433000 Spectrometers, 38500000 Controle- en testapparatuur, 38511100 Aftastingselektronenmicroscopen, 38530000 Diffractieapparatuur, 38540000 Machines en toestellen voor testen en meten, 38634000 Optische microscopen, 42340000 Ovens voor niet-huishoudelijk gebruik
Deadline:
16 juni 2025 11:00
Soort termijn:
Indiening van een bod
Plaats van uitvoering:
Fourniture de matériels scientifiques pour la création d'une halle de TP « matériaux », dans le cadre du projet CMA (Compétences et Métiers d'Avenir) 3NC (Normandie, Nucléaire, Nouvelles Compétences)
Toekennende instantie:
Université de Rouen Normandie
Gunningsnummer:
2025-27
Publicatie:
24 mei 2025 02:02
La présente consultation concerne l’acquisition d’un plasma cleaner pour nettoyer les échantillons MET et des chambres MEB.

La présente consultation concerne l’acquisition d’un plasma cleaner pour nettoyer les échantillons MET et des chambres MEB.

CPV: 38511100 Aftastingselektronenmicroscopen
Plaats van uitvoering:
La présente consultation concerne l’acquisition d’un plasma cleaner pour nettoyer les échantillons MET et des chambres MEB.
Toekennende instantie:
SUPELEC
Gunningsnummer:
CS2025-022
Publicatie:
23 mei 2025 00:30
LA2814C MTU RFT for the for the Supply of a Scanning Electron Microscope (SEM) with Energy Dispersive X-ray Analyser (EDX)

Munster Technological University is seeking tenders from competent providers to supply a Scanning Electron Microscope (SEM) with Energy Dispersive X-ray Analyser (EDX) to the Centre for Advanced Photonics and Process Analysis (CAPPA) Centre, MTU Cork Campus. Munster Technological University is seeking tenders from competent providers to supply a Scanning Electron …

CPV: 38000000 Laboratoriuminstrumenten, optische en precisie-instrumenten (uitgezonderd brillen), 38511000 Elektronenmicroscopen, 38511100 Aftastingselektronenmicroscopen
Plaats van uitvoering:
LA2814C MTU RFT for the for the Supply of a Scanning Electron Microscope (SEM) with Energy Dispersive X-ray Analyser (EDX)
Toekennende instantie:
Education Procurement Service (EPS)
Gunningsnummer:
0
Publicatie:
17 mei 2025 06:44
Skenovací elektronový mikroskop

Předmětem veřejné zakázky je dodávka skenovacího elektronového mikroskopu s příslušenstvím. Předmětem veřejné zakázky je dodávka skenovacího elektronového mikroskopu s příslušenstvím.

CPV: 38511000 Elektronenmicroscopen, 38511100 Aftastingselektronenmicroscopen
Plaats van uitvoering:
Skenovací elektronový mikroskop
Toekennende instantie:
Ústav makromolekulární chemie AV ČR, v. v. i.
Gunningsnummer:
VZ
Publicatie:
14 mei 2025 16:30
Strukturierungs- und Beobachtungssystem auf Basis einer Plasma-Ionensäule und einer Elektronensäule zur Beobachtung, sowie kontaminationsarmen Präparation großer Probenbereiche mit hohen Abtragsraten

Lieferung, Aufbau und Inbetriebnahme einer flexibel einsetzbaren modernen Plasma-FIB (PFIB), wel-che die Möglichkeit der kontaminationsarmen Präparation von Strukturen über größere Probenbe-reiche mit hoher Abtragsrate besitzt. Diese hohen Abtragsraten sind für die effiziente Herstellung und Charakterisierung von verschiedenen z.T. integrierten Strukturen in unterschiedlichen Größens-kalen von Bedeutung. Mit der geplanten Anlage sollen …

CPV: 38511100 Aftastingselektronenmicroscopen, 38512000 Ionen- en moleculaire microscopen
Plaats van uitvoering:
Strukturierungs- und Beobachtungssystem auf Basis einer Plasma-Ionensäule und einer Elektronensäule zur Beobachtung, sowie kontaminationsarmen Präparation großer Probenbereiche mit hohen Abtragsraten
Toekennende instantie:
Technische Universität Ilmenau, Dezernat Finanzen, Zentrale Vergabestelle
Gunningsnummer:
TU-025/25-201-ZMN
Publicatie:
13 mei 2025 01:07
Acquisition, livraison et mise en service d'un microscope électronique à balayage MEB conventionnel

Acquisition, livraison et mise en service d'un microscope électronique à balayage MEB conventionnel microscope électronique à balayage MEB conventionnel

CPV: 38511100 Aftastingselektronenmicroscopen
Deadline:
11 juni 2025 12:00
Soort termijn:
Indiening van een bod
Plaats van uitvoering:
Acquisition, livraison et mise en service d'un microscope électronique à balayage MEB conventionnel
Toekennende instantie:
UNIVERSITE SAVOIE MONT BLANC
Gunningsnummer:
LOT UNIQUE
Publicatie:
9 mei 2025 06:01