Uw zoekopdracht naar Aftastingselektronenmicroscopen
Aantal gevonden signaleringen: 15

FORNITURA DI UN MICROSCOPIO ELETTRONICO

GARA EUROPEA A PROCEDURA APERTA PER LA FORNITURA DI UN MICROSCOPIO ELETTRONICO FORNITURA DI UN MICROSCOPIO ELETTRONICO A SCANSIONE A EMISSIONE DI CAMPO (FESEM) AD ULTRA-ALTA RISOLUZIONE PER ANALISI IN ALTO VUOTO E PRESSIONE VARIABILE

CPV: 38511100 Aftastingselektronenmicroscopen
Plaats van uitvoering:
FORNITURA DI UN MICROSCOPIO ELETTRONICO
Toekennende instantie:
Università degli Studi di Roma Tor Vergata
Gunningsnummer:
1
Publicatie:
27 maart 2025 03:36
Aquisição de 1 (um) Microscópio Eletrónico de Varrimento, para o Laboratório Associado CICECO – Instituto de Materiais de Aveiro da Universidade de Aveiro

Aquisição de 1 (um) Microscópio Eletrónico de Varrimento, para o Laboratório Associado CICECO – Instituto de Materiais de Aveiro da Universidade de Aveiro Aquisição de 1 (um) Microscópio Eletrónico de Varrimento, para o Laboratório Associado CICECO – Instituto de Materiais de Aveiro da Universidade de Aveiro

CPV: 38511100 Aftastingselektronenmicroscopen
Plaats van uitvoering:
Aquisição de 1 (um) Microscópio Eletrónico de Varrimento, para o Laboratório Associado CICECO – Instituto de Materiais de Aveiro da Universidade de Aveiro
Toekennende instantie:
Universidade de Aveiro
Gunningsnummer:
1
Publicatie:
27 maart 2025 02:51
Skaneeriv elektronmikroskoop

Energiadispersiivse röntgen-mikroanalüsaatoriga varustatud skaneeriv elektronmikroskoop Energiadispersiivse röntgen-mikroanalüsaatoriga varustatud skaneeriv elektronmikroskoop

CPV: 38511100 Aftastingselektronenmicroscopen
Plaats van uitvoering:
Skaneeriv elektronmikroskoop
Toekennende instantie:
Tallinna Tehnikaülikool
Gunningsnummer:
290090
Publicatie:
22 maart 2025 01:27
Rasterkraftmikroskop (AFM)

Rasterkraftmikroskop (AFM) Beschafft wird ein Rasterkraftmikroskop (AFM; engl. Atomic Force Microscope) mit einem Scanbereich in x- und y-Richtung von mind. 90µm für die Charakterisierung von Topologien im speziellen im Kontext von elektrischen Halbleiterbauteilen. Das Gerät ist als integraler Bestandteil des halbleitertechnologischen Reinraums des Forschungsgebäudes INCYTE der Naturwissenschaftlich-Technischen Fakultät der Universität …

CPV: 38000000 Laboratoriuminstrumenten, optische en precisie-instrumenten (uitgezonderd brillen), 38511100 Aftastingselektronenmicroscopen
Plaats van uitvoering:
Rasterkraftmikroskop (AFM)
Toekennende instantie:
Universität Siegen
Gunningsnummer:
02-NL25E1OV
Publicatie:
18 maart 2025 04:46
Sistema di telepatologia

Indizione Procedura aperta per la stipula di una “Convenzione triennale per la fornitura in locazione inclusive service di Sistemi di Telepatologia per le AA.SS. della Regione Toscana – CUI 2023-022-0006” Sistema per Telepatologia

CPV: 38511100 Aftastingselektronenmicroscopen
Deadline:
30 april 2025 16:00
Soort termijn:
Indiening van een bod
Plaats van uitvoering:
Sistema di telepatologia
Toekennende instantie:
ESTAR - Ente di Supporto Tecnico Amministrativo Regionale
Gunningsnummer:
1
Publicatie:
15 maart 2025 02:24