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Beschaffung eines Zeiss Crossbeam 350 (FE-REM) inkl. Oxford EDX/EBSD System

Beschaffung eines Zeiss Crossbeam 350 (FE-REM) inkl. Oxford EDX/EBSD System Beschaffung eines Zeiss Crossbeam 350 (FE-REM) inkl. Oxford EDX/EBSD System

CPV: 38511100 Aftastingselektronenmicroscopen

Plaats van uitvoering:

Beschaffung eines Zeiss Crossbeam 350 (FE-REM) inkl. Oxford EDX/EBSD System

Toekennende instantie:

Max-Planck-Institut für Nachhaltige Materialien GmbH

Gunningsnummer:

G.GRO.EIFO0006 SN Zeiss Crossbeam 350

1. Beschaffer

1.1 Beschaffer

Offizielle Bezeichnung : Max-Planck-Institut für Nachhaltige Materialien GmbH

Rechtsform des Erwerbers : Organisation, die einen durch einen öffentlichen Auftraggeber subventionierten Auftrag vergibt

Tätigkeit des öffentlichen Auftraggebers : Bildung

2. Verfahren

2.1 Verfahren

Titel : Beschaffung eines Zeiss Crossbeam 350 (FE-REM) inkl. Oxford EDX/EBSD System

Beschreibung : Beschaffung eines Zeiss Crossbeam 350 (FE-REM) inkl. Oxford EDX/EBSD System

Kennung des Verfahrens : e35b77fb-77c0-42da-80dc-1156c2bdba86

Verfahrensart : Verhandlungsverfahren ohne Aufruf zum Wettbewerb

2.1.1 Zweck

Art des Auftrags : Lieferungen

Haupteinstufung ( cpv ): 38511100 Rasterelektronenmikroskope

2.1.2 Erfüllungsort

Stadt : Düsseldorf

Land, Gliederung (NUTS) : Düsseldorf, Kreisfreie Stadt ( DEA11 )

Land : Deutschland

2.1.3 Wert

Geschätzter Wert ohne MwSt. : 1 100 000 Euro

2.1.4 Allgemeine Informationen

Rechtsgrundlage :

Richtlinie 2014/24/EU

vgv -

5. Los

5.1 Technische ID des Loses : LOT-0000

Titel : G.GRO.EIFO0006 SN Zeiss Crossbeam 350

Beschreibung : Beschaffung eines Zeiss Crossbeam 350 (FE-REM) inkl. Oxford EDX/EBSD System

Interne Kennung : G.GRO.EIFO0006 SN Zeiss Crossbeam 350

5.1.1 Zweck

Art des Auftrags : Lieferungen

Haupteinstufung ( cpv ): 38511100 Rasterelektronenmikroskope

5.1.2 Erfüllungsort

Stadt : Düsseldorf

Land, Gliederung (NUTS) : Düsseldorf, Kreisfreie Stadt ( DEA11 )

Land : Deutschland

Zusätzliche Informationen :

5.1.6 Allgemeine Informationen

Auftragsvergabeprojekt nicht aus EU-Mitteln finanziert

Die Beschaffung fällt unter das Übereinkommen über das öffentliche Beschaffungswesen : ja

5.1.7 Strategische Auftragsvergabe

Ziel der strategischen Auftragsvergabe : Keine strategische Beschaffung

5.1.10 Zuschlagskriterien

Kriterium :

Art : Preis

Bezeichnung : niedrigster Gesamtpreis

Beschreibung : niedrigster Gesamtpreis

Kategorie des Schwellen-Zuschlagskriteriums : Gewichtung (dezimal, genau)

Zuschlagskriterium — Zahl : 1

5.1.15 Techniken

Rahmenvereinbarung :

Keine Rahmenvereinbarung

Informationen über das dynamische Beschaffungssystem :

Kein dynamisches Beschaffungssystem

5.1.16 Weitere Informationen, Schlichtung und Nachprüfung

Überprüfungsstelle : Max-Planck-Institut für Nachhaltige Materialien GmbH

Informationen über die Überprüfungsfristen : Genaue Angaben zu den Fristen für die Einlegung von Rechtsbehelfen: Ein Nachprüfungsantrag ist unzulässig, soweit mehr als 15 Kalendertage nach Eingang der Mitteilung des Auftraggebers, einer Rüge nicht abhelfen zu wollen, vergangen sind (§ 160 Abs. 3 Nr. 4 GWB). Ein Nachprüfungsantrag ist zudem unzulässig, soweit der Antrag erst nach Zuschlagserteilung zugestellt wird (§ 168 Abs. 2 GWB). Die Zuschlagserteilung ist möglich 10 Tage nach Absendung (per Fax oder auf elektronischem Weg) der Bekanntgabe der Vergabeentscheidung (§ 134 Abs. 1 GWB). Die Zulässigkeit eines Nachprüfungsantrages setzt ferner voraus, dass die geltend gemachten Vergabeverstöße unverzüglich nach Kenntnis bzw. - soweit die Vergabeverstöße aus der Bekanntmachung oder den Vergabeunterlagen erkennbar sind - bis zum Ablauf der Bewerbungs- bzw. Angebotsfrist gerügt wurden (§ 160 Abs. 3 Nr. 1-3 GWB).

6. Ergebnisse

Wert aller in dieser Bekanntmachung vergebenen Verträge : 1 100 000 Euro

Direktvergabe :

Begründung der Direktvergabe : Der Auftrag kann nur von einem bestimmten Wirtschaftsteilnehmer ausgeführt werden, da aus technischen Gründen kein Wettbewerb vorhanden ist

Sonstige Begründung : Zeiss ist der einzige Anbieter, der ein FIB-SEM-Doppelstrahlsystem anbietet, das alle unsere wissenschaftlichen Anforderungen erfüllt. Der entscheidende Faktor ist die einzigartige Fähigkeit des Zeiss Crossbeam 350, alle unten aufgeführten Schlüsselfunktionen in einer einzigen, integrierten Plattform zu vereinen. Die wichtigsten Funktionen, die für unsere Forschung unerlässlich sind und nur vom Zeiss Crossbeam 350 angeboten werden, sind: 1. Gleichzeitige Bildgebung mit Ionen- und Elektronenstrahlen während der Probenherstellung aufgrund des Fehlens eines Magnetfelds (Immersionsfeld) oder eines elektrostatischen Gegenfelds in der Nähe der Probe, wodurch die bestmöglichen Auflösungsanforderungen für alle Materialien, einschließlich magnetischer Proben, erreicht werden. 2. Koaxialer In-Lens-BSE-Detektor mit der Möglichkeit der Energiefilterung von rückgestreuten Elektronen. 3. Voll motorisierter euzentrischer 6-Achsen-Probentisch, der bei jedem Arbeitsabstand euzentrisch gekippt werden kann. In Verbindung mit einem fortschrittlichen BSD-Detektor bietet dies die besten Voraussetzungen für eine kontrollierte Elektronenkanalisierungskontrastbildgebung (ECCI) mit hohem Durchsatz. 4. Möglichkeit zur Erfassung und Verarbeitung von Bildern mit ultrahoher Auflösung von bis zu 40k x 50k Pixeln. 5. 3D-Tomographie, bei der Spektroskopie, Beugung und hochauflösende Bilder in abwechselnder Reihenfolge unter Verwendung verschiedener und einstellbarer vordefinierter E-Beam-Parameter und automatischer Elektronenstrahlausrichtung erfasst werden. 6. Hochauflösende 3D-Rekonstruktion unter Verwendung eines Rückkopplungsmechanismus, der sicherstellt, dass die Dicke aller Schnitte während der 3D-FIB-Tomographie konstant bleibt – patentiert EP1710828B1. 7. Airlock-System für schnellen Probentransfer, kompatibel mit einer Vielzahl von Proben und Probenhaltern mit einem Durchmesser von bis zu 3 Zoll. 8. Zusätzliche Quorum-Airlock- und Vorbereitungskammer mit Funktionen für die Vorabkühlung von Proben, Sputterbeschichtung mit Pt, Proben-Sublimation und Gefrierbruch mit einem integrierten Messer (besonders vorteilhaft für die Untersuchung von Wasserstoffeffekten in Materialien und Batteriematerialien). Die Schleuse ist außerdem mit einem Quorum Kryo-Probentisch gekoppelt, wodurch vollständig integrierte Kryo-FIB-Arbeitsabläufe ermöglicht werden. 9. Möglichkeit für Upgrades und eine modulare Plattform zur Unterstützung zukünftiger Forschungsanforderungen, z. B. Ladungskompensation mit einer Elektronenflutkanone für nichtleitende Proben. Die 3D-EDS/EBSD-Korrelationsanalyse von Zeiss Crossbeam 350 ist nur mit Oxford Instruments integriert, das eine hervorragende Vielseitigkeit bei der Durchführung hochpräziser Korrelationsanalysen bietet, sich nahtlos in die Zeiss Atlas 5 3D-Software integrieren lässt und unsere Anforderungen erfüllt. Die wichtigsten Eigenschaften von Oxford Instruments EDS/EBSD, die für unsere Anforderungen unerlässlich sind, sind: EDS-System mit Ultim Max Infinity-Detektor (mit 40 mm2 Sensorgröße): 1. Detektor mit sehr rauscharmem Feldeffekttransistor (FET; Patent EU 2710733) 2. Garantierte Detektorauflösungen: ≤127 eV bei MnKα (bei 200.000 cps), ≤46 eV bei CKα (bei 50.000 cps) 3. Garantierte Änderung der Spitzenposition und Auflösung von maximal 1 eV zwischen 5.000 cps und 100.000 cps 4. Optimierter Standardsatz für die Quantifizierung bei einer Beschleunigungsspannung von ≤5 kV 5. Option zur manuellen Optimierung des Pile-up-Koeffizienten 6. Überlagerung des nicht pile-up-korrigierten Spektrums mit dem korrigierten Spektrum 7. Umfassende Linendatenbank mit >2800 Linien EBSD-System mit C-Swift+-Detektor: 1. EBSD-Detektor (CMOS-Technologie) mit hocheffizienter Glasfasertechnik (linsenlos) 2. Empfindlichkeit des Detektors > 800 pps / nA (max.) 3. Geschwindigkeit (Muster pro Sekunde) von >2000 pps bei einer Auflösung von 156 x 128 Pixeln 4. Näherungssensor – Berührungsloses Kollisionswarnsystem zum Schutz vor Beschädigungen Benutzerfreundliche Datenerfassungssoftware, die eine unabhängige Steuerung von Beugung (EBSD), Spektroskopie (EDS) und Bildgebung mithilfe eines übersichtlichen Workflows für die detaillierte Einstellung der Messparameter ermöglicht

6.1 Ergebnis, Los-– Kennung : LOT-0000

Es wurde mindestens ein Gewinner ermittelt.

6.1.2 Informationen über die Gewinner

Wettbewerbsgewinner :

Offizielle Bezeichnung : Carl Zeiss Microscopy Deutschland GmbH

Angebot :

Kennung des Angebots : 7761494013

Kennung des Loses oder der Gruppe von Losen : LOT-0000

Wert der Ausschreibung : 1 100 000 Euro

Das Angebot wurde in die Rangfolge eingeordnet : nein

Vergabe von Unteraufträgen : Nein

Informationen zum Auftrag :

Kennung des Auftrags : Vertrag-02

6.1.4 Statistische Informationen

Eingegangene Angebote oder Teilnahmeanträge :

Art der eingegangenen Einreichungen : Angebote

Anzahl der eingegangenen Angebote oder Teilnahmeanträge : 1

Art der eingegangenen Einreichungen : Angebote geprüft und aufgrund eines ungewöhnlich niedrigen Preises oder aufgrund ungewöhnlich niedriger Kosten als unzulässig abgewiesen