Jūsu meklēšana pēc Skenējošie elektronmikroskopi
Atrasto brīdinājumu skaits: 14

Rasterelektronenmikroskop

Die Hochschule Aalen beschafft ein Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop. Die Beschaffung dient zur effizienten hochauflösenden Analyse von Funktions-/ Strukturmaterialien, speziell sauerstoffempfindlichen Energiespeicher- und -wandlermaterialien am Institut für Materialforschung (IMFAA).

CPV: 38511100 Skenējošie elektronmikroskopi
Izpildes vieta:
Rasterelektronenmikroskop
Piešķīrēja iestāde:
Hochschule Aalen - Technik und Wirtschaft
Piešķīruma numurs:
2024/25
Publikācija:
2025. gada 6. jūnijs, 12:07
Skenējošā elektronu mikroskopa piegāde un rentgenstaru enerģijas dispersijas spektrometrijas (EDS) detektora uzstādīšana

Skenējošā elektronu mikroskopa piegāde un rentgenstaru enerģijas dispersijas spektrometrijas (EDS) detektora uzstādīšana Skenējošā elektronu mikroskopa piegāde un rentgenstaru enerģijas dispersijas spektrometrijas (EDS) detektora uzstādīšana

CPV: 38511100 Skenējošie elektronmikroskopi
Izpildes vieta:
Skenējošā elektronu mikroskopa piegāde un rentgenstaru enerģijas dispersijas spektrometrijas (EDS) detektora uzstādīšana
Piešķīrēja iestāde:
Valsts tiesu ekspertīžu birojs
Piešķīruma numurs:
VTEB2025/02
Publikācija:
2025. gada 3. jūnijs, 14:40
Acquisition, installation, paramétrage et mise en ordre de marche d’un microscope électronique à balayage (MEB) couplé à un détecteur EDS et prestations connexes

Acquisition, installation, paramétrage et mise en ordre de marche d’un microscope électronique à balayage (MEB) couplé à un détecteur EDS et prestations connexes Acquisition, installation, paramétrage et mise en ordre de marche d’un microscope électronique à balayage (MEB) couplé à un détecteur EDS et prestations connexes

CPV: 38430000 Detektorierīces un analīzes ierīces, 38511100 Skenējošie elektronmikroskopi, 50411000 Mērījumu aparātu remonta un tehniskās apkopes pakalpojumi
Termiņš:
2025. gada 3. jūlijs, 16:30
Termiņa veids:
Piedāvājuma iesniegšana
Izpildes vieta:
Acquisition, installation, paramétrage et mise en ordre de marche d’un microscope électronique à balayage (MEB) couplé à un détecteur EDS et prestations connexes
Piešķīrēja iestāde:
MINISTERE DES ARMEES Case n° 51
Piešķīruma numurs:
24M0088
Publikācija:
2025. gada 31. maijs, 03:03
Suministro e instalación de un Equipo de Microscopía y Litografía por Electrones de bajo voltaje con Stage Interferométrico y capacidades para Metrología, destinado al Instituto de Microelectrónica de Barcelona de la Agencia Estatal Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC).

Según se indica en la memoria justificativa de las especificaciones técnicas, en la memoria justificativa de la necesidad de contratar, y en el pliego de prescripciones técnicas. Según se indica en la memoria justificativa de las especificaciones técnicas, en la memoria justificativa de la necesidad de contratar, y en el …

CPV: 31712100 Mikroelektronikas ierīces un aparāti, 38511100 Skenējošie elektronmikroskopi, 42990000 Dažādas īpaša lietojuma iekārtas
Termiņš:
2025. gada 23. jūnijs, 14:00
Termiņa veids:
Piedāvājuma iesniegšana
Izpildes vieta:
Suministro e instalación de un Equipo de Microscopía y Litografía por Electrones de bajo voltaje con Stage Interferométrico y capacidades para Metrología, destinado al Instituto de Microelectrónica de Barcelona de la Agencia Estatal Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC).
Piešķīrēja iestāde:
Presidencia de la Agencia Estatal Consejo Superior de Investigaciones Científicas, M.P.
Piešķīruma numurs:
33398/25
Publikācija:
2025. gada 24. maijs, 03:03
Fourniture de matériels scientifiques pour la création d'une halle de TP « matériaux », dans le cadre du projet CMA (Compétences et Métiers d'Avenir) 3NC (Normandie, Nucléaire, Nouvelles Compétences)

Fourniture de matériels pour la création d'une halle de TP « matériaux » pour le Master « Sciences de la matière », dans le cadre du projet CMA (Compétences et Métiers d'Avenir) 3NC (Normandie, Nucléaire, Nouvelles Compétences). Il a pour objet la fourniture de matériels neufs. Il comprend les 15 …

CPV: 31711520 Elektrisko rezistoru, reostatu un potenciometru detaļas, 35121300 Drošības piederumi, 38000000 Laboratorijas, optiskās un precīzijas ierīces (izņemot brilles), 38341400 Geigera skaitītāji, 38433000 Masas spektrometri, 38500000 Pārbaudes un analīžu aparāti, 38511100 Skenējošie elektronmikroskopi, 38530000 Difrakcijas aparāts, 38540000 Ierīces un aparatūra pārbaudēm un mērījumiem, 38634000 Optiskie mikroskopi, 42340000 Krāsnis, kas nav mājsaimniecības krāsnis
Termiņš:
2025. gada 16. jūnijs, 11:00
Termiņa veids:
Piedāvājuma iesniegšana
Izpildes vieta:
Fourniture de matériels scientifiques pour la création d'une halle de TP « matériaux », dans le cadre du projet CMA (Compétences et Métiers d'Avenir) 3NC (Normandie, Nucléaire, Nouvelles Compétences)
Piešķīrēja iestāde:
Université de Rouen Normandie
Piešķīruma numurs:
2025-27
Publikācija:
2025. gada 24. maijs, 02:02
La présente consultation concerne l’acquisition d’un plasma cleaner pour nettoyer les échantillons MET et des chambres MEB.

La présente consultation concerne l’acquisition d’un plasma cleaner pour nettoyer les échantillons MET et des chambres MEB.

CPV: 38511100 Skenējošie elektronmikroskopi
Izpildes vieta:
La présente consultation concerne l’acquisition d’un plasma cleaner pour nettoyer les échantillons MET et des chambres MEB.
Piešķīrēja iestāde:
SUPELEC
Piešķīruma numurs:
CS2025-022
Publikācija:
2025. gada 23. maijs, 00:30
LA2814C MTU RFT for the for the Supply of a Scanning Electron Microscope (SEM) with Energy Dispersive X-ray Analyser (EDX)

Munster Technological University is seeking tenders from competent providers to supply a Scanning Electron Microscope (SEM) with Energy Dispersive X-ray Analyser (EDX) to the Centre for Advanced Photonics and Process Analysis (CAPPA) Centre, MTU Cork Campus. Munster Technological University is seeking tenders from competent providers to supply a Scanning Electron …

CPV: 38000000 Laboratorijas, optiskās un precīzijas ierīces (izņemot brilles), 38511000 Elektronmikroskopi, 38511100 Skenējošie elektronmikroskopi
Izpildes vieta:
LA2814C MTU RFT for the for the Supply of a Scanning Electron Microscope (SEM) with Energy Dispersive X-ray Analyser (EDX)
Piešķīrēja iestāde:
Education Procurement Service (EPS)
Piešķīruma numurs:
0
Publikācija:
2025. gada 17. maijs, 06:44
Skenovací elektronový mikroskop

Předmětem veřejné zakázky je dodávka skenovacího elektronového mikroskopu s příslušenstvím. Předmětem veřejné zakázky je dodávka skenovacího elektronového mikroskopu s příslušenstvím.

CPV: 38511000 Elektronmikroskopi, 38511100 Skenējošie elektronmikroskopi
Izpildes vieta:
Skenovací elektronový mikroskop
Piešķīrēja iestāde:
Ústav makromolekulární chemie AV ČR, v. v. i.
Piešķīruma numurs:
VZ
Publikācija:
2025. gada 14. maijs, 16:30
Strukturierungs- und Beobachtungssystem auf Basis einer Plasma-Ionensäule und einer Elektronensäule zur Beobachtung, sowie kontaminationsarmen Präparation großer Probenbereiche mit hohen Abtragsraten

Lieferung, Aufbau und Inbetriebnahme einer flexibel einsetzbaren modernen Plasma-FIB (PFIB), wel-che die Möglichkeit der kontaminationsarmen Präparation von Strukturen über größere Probenbe-reiche mit hoher Abtragsrate besitzt. Diese hohen Abtragsraten sind für die effiziente Herstellung und Charakterisierung von verschiedenen z.T. integrierten Strukturen in unterschiedlichen Größens-kalen von Bedeutung. Mit der geplanten Anlage sollen …

CPV: 38511100 Skenējošie elektronmikroskopi, 38512000 Jonu un molekulu mikroskopi
Izpildes vieta:
Strukturierungs- und Beobachtungssystem auf Basis einer Plasma-Ionensäule und einer Elektronensäule zur Beobachtung, sowie kontaminationsarmen Präparation großer Probenbereiche mit hohen Abtragsraten
Piešķīrēja iestāde:
Technische Universität Ilmenau, Dezernat Finanzen, Zentrale Vergabestelle
Piešķīruma numurs:
TU-025/25-201-ZMN
Publikācija:
2025. gada 13. maijs, 01:07
Acquisition, livraison et mise en service d'un microscope électronique à balayage MEB conventionnel

Acquisition, livraison et mise en service d'un microscope électronique à balayage MEB conventionnel microscope électronique à balayage MEB conventionnel

CPV: 38511100 Skenējošie elektronmikroskopi
Termiņš:
2025. gada 11. jūnijs, 12:00
Termiņa veids:
Piedāvājuma iesniegšana
Izpildes vieta:
Acquisition, livraison et mise en service d'un microscope électronique à balayage MEB conventionnel
Piešķīrēja iestāde:
UNIVERSITE SAVOIE MONT BLANC
Piešķīruma numurs:
LOT UNIQUE
Publikācija:
2025. gada 9. maijs, 06:01