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Un microscope électronique à balayage en série

L'EPFL a l'intention d'acquérir un microscope électronique à balayage en série conçu pour l'imagerie à haute résolution de coupes minces en série et la microscopie électronique à balayage en série (SBF-SEM). Le système doit inclure un ultramicrotome facilement démontable pour l'automatisation des coupes et de l'imagerie en série. Ce microscope …

CPV: 38511100 Skenējošie elektronmikroskopi
Termiņš:
2025. gada 16. jūnijs, 23:59
Termiņa veids:
Piedāvājuma iesniegšana
Izpildes vieta:
Un microscope électronique à balayage en série
Piešķīrēja iestāde:
EPFL-Scientific Equipment
Piešķīruma numurs:
Publikācija:
2025. gada 8. maijs, 05:34
FOURNITURE D’UN MICROSCOPE ELECTRONIQUE A BALAYAGE

Microscope électronique à balayage (MEB) compatible avec le domaine de la microélectronique et à installer dans un environnement de salle blanche ISO6 Microscope électronique à balayage (MEB) compatible avec le domaine de la microélectronique et à installer dans un environnement de salle blanche ISO6

CPV: 38511100 Skenējošie elektronmikroskopi
Termiņš:
2025. gada 27. jūnijs, 16:00
Termiņa veids:
Piedāvājuma iesniegšana
Izpildes vieta:
FOURNITURE D’UN MICROSCOPE ELECTRONIQUE A BALAYAGE
Piešķīrēja iestāde:
Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives
Piešķīruma numurs:
B25-01068
Publikācija:
2025. gada 30. aprīlis, 05:05
Raith Electron-Beam Lithography Hardware and Software upgrade

This voluntary ex-ante transparency VEAT notice acknowledges that Trinity College Dublin intends to award a contract to EM Systems Support Ltd., Media House, London Road, Adlington, Cheshire, SK10 4NL, United Kingdom. The contract is for the refurbishment and upgrade of the Raith Laser Interferometer Stage (LIS) located in CRANN, Naughton …

CPV: 38511100 Skenējošie elektronmikroskopi
Izpildes vieta:
Raith Electron-Beam Lithography Hardware and Software upgrade
Piešķīrēja iestāde:
Trinity College Dublin the University of Dublin_336
Piešķīruma numurs:
TCD-25-C1978
Publikācija:
2025. gada 30. aprīlis, 04:45
Avviso di indagine di mercato per verifica unicità fornitore ex art. 76 c. 2 lett. b) del D.Lgs. n. 36/2023 - fornitura di un microscopio elettronico a scansione SEM

Avviso di indagine di mercato per verifica unicità fornitore ex art. 76 c. 2 lett. b) del D.Lgs. n. 36/2023 - fornitura di un microscopio elettronico a scansione SEM Avviso di indagine di mercato per verifica unicità fornitore ex art. 76 c. 2 lett. b) del D.Lgs. n. 36/2023 - …

CPV: 38511100 Skenējošie elektronmikroskopi
Izpildes vieta:
Avviso di indagine di mercato per verifica unicità fornitore ex art. 76 c. 2 lett. b) del D.Lgs. n. 36/2023 - fornitura di un microscopio elettronico a scansione SEM
Piešķīrēja iestāde:
UNIVERSITA' DEGLI STUDI DI MILANO - BICOCCA - Area Infrastrutture e Approvvigionamenti
Piešķīruma numurs:
Publikācija:
2025. gada 30. aprīlis, 04:41