Jūsu meklēšana pēc Skenējošie elektronmikroskopi
Atrasto brīdinājumu skaits: 15

FORNITURA DI UN MICROSCOPIO ELETTRONICO

GARA EUROPEA A PROCEDURA APERTA PER LA FORNITURA DI UN MICROSCOPIO ELETTRONICO FORNITURA DI UN MICROSCOPIO ELETTRONICO A SCANSIONE A EMISSIONE DI CAMPO (FESEM) AD ULTRA-ALTA RISOLUZIONE PER ANALISI IN ALTO VUOTO E PRESSIONE VARIABILE

CPV: 38511100 Skenējošie elektronmikroskopi
Izpildes vieta:
FORNITURA DI UN MICROSCOPIO ELETTRONICO
Piešķīrēja iestāde:
Università degli Studi di Roma Tor Vergata
Piešķīruma numurs:
1
Publikācija:
2025. gada 27. marts, 03:36
Aquisição de 1 (um) Microscópio Eletrónico de Varrimento, para o Laboratório Associado CICECO – Instituto de Materiais de Aveiro da Universidade de Aveiro

Aquisição de 1 (um) Microscópio Eletrónico de Varrimento, para o Laboratório Associado CICECO – Instituto de Materiais de Aveiro da Universidade de Aveiro Aquisição de 1 (um) Microscópio Eletrónico de Varrimento, para o Laboratório Associado CICECO – Instituto de Materiais de Aveiro da Universidade de Aveiro

CPV: 38511100 Skenējošie elektronmikroskopi
Izpildes vieta:
Aquisição de 1 (um) Microscópio Eletrónico de Varrimento, para o Laboratório Associado CICECO – Instituto de Materiais de Aveiro da Universidade de Aveiro
Piešķīrēja iestāde:
Universidade de Aveiro
Piešķīruma numurs:
1
Publikācija:
2025. gada 27. marts, 02:51
Skaneeriv elektronmikroskoop

Energiadispersiivse röntgen-mikroanalüsaatoriga varustatud skaneeriv elektronmikroskoop Energiadispersiivse röntgen-mikroanalüsaatoriga varustatud skaneeriv elektronmikroskoop

CPV: 38511100 Skenējošie elektronmikroskopi
Izpildes vieta:
Skaneeriv elektronmikroskoop
Piešķīrēja iestāde:
Tallinna Tehnikaülikool
Piešķīruma numurs:
290090
Publikācija:
2025. gada 22. marts, 01:27
Rasterkraftmikroskop (AFM)

Rasterkraftmikroskop (AFM) Beschafft wird ein Rasterkraftmikroskop (AFM; engl. Atomic Force Microscope) mit einem Scanbereich in x- und y-Richtung von mind. 90µm für die Charakterisierung von Topologien im speziellen im Kontext von elektrischen Halbleiterbauteilen. Das Gerät ist als integraler Bestandteil des halbleitertechnologischen Reinraums des Forschungsgebäudes INCYTE der Naturwissenschaftlich-Technischen Fakultät der Universität …

CPV: 38000000 Laboratorijas, optiskās un precīzijas ierīces (izņemot brilles), 38511100 Skenējošie elektronmikroskopi
Izpildes vieta:
Rasterkraftmikroskop (AFM)
Piešķīrēja iestāde:
Universität Siegen
Piešķīruma numurs:
02-NL25E1OV
Publikācija:
2025. gada 18. marts, 04:46
Sistema di telepatologia

Indizione Procedura aperta per la stipula di una “Convenzione triennale per la fornitura in locazione inclusive service di Sistemi di Telepatologia per le AA.SS. della Regione Toscana – CUI 2023-022-0006” Sistema per Telepatologia

CPV: 38511100 Skenējošie elektronmikroskopi
Termiņš:
2025. gada 30. aprīlis, 16:00
Termiņa veids:
Piedāvājuma iesniegšana
Izpildes vieta:
Sistema di telepatologia
Piešķīrēja iestāde:
ESTAR - Ente di Supporto Tecnico Amministrativo Regionale
Piešķīruma numurs:
1
Publikācija:
2025. gada 15. marts, 02:24