Beschreibung
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Der Auftraggeber plant die Beschaffung eines Zweistrahlmikroskops-Fokussierendes Ionenstrahl Mikroskop/Rasterelektronenmikroskop, kurz FIB-SEM. Leistungsbeschreibung Spezifikationen der Kaufsache inkl. ggf. Installation vor Ort / detaillierte Beschreibung der zu erbringenden Leistung bzw. Dienstleistung (Anmerkung: wird Bestandteil des Vertrages) Description of service Specifications of the object of purchase incl. installation on site if necessary / detailed description of the performance or service to be rendered (Note: becomes part of the contract) Das TFS Hydra Bio Plasma FIB (Focused Ion Beam) ist ein hochauflösendes Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-REM bzw. FE-SEM; "Field-Emission-Scanning Electron Microscope"), das mit einem hochmodernen fokussierten induktiv gekoppelten Plasma (ICP)-Ionenstrahl ausgestattet ist. Hydra Bio verfügt über vier Arten von Ionen (Xe, O, Ar und N), die unabhängig voneinander verwendet werden können, um eine ortsspezifische, großvolumige Materialentfernung und präzises Top-Down- und Querschnittsfräsen zu ermöglichen. Plasmaquellen können höhere Strahlströme liefern als Flüssigmetallquellen (LMIS; "liquid metal ion source"), die hauptsächlich mit Gallium Ionen betrieben werden. Mit Hilfe von Plasma Ionen wird die Ablation von großen, unter hohem Druck gefrorenen Gewebeproben mit bis zu einer Größenordnung höheren Ablations-Raten ermöglicht. Das Kryo-PFIB Hydra Bio ist ein FIB/SEM, welches speziell für die kryogene Probenpräparation entwickelt wurde. Kryogene Proben ("Frozen-hydrated") sind vitrifizierte Proben die sowohl mittels Schockgefrieren bei atmosphärischem Druck ("Plunge-freezing") als auch unter Hochdruck ("High-pressure freezing; HPF"), bei ca. 2000 bar, hergestellt wurden. Zu den 4 verschiedene Plasmaionenspezies (Ar, Xe, O und N) umfasst dieses Instrument einen "EasyLift" Mikromanipulator für das Herausheben ("Lift-out") von Lamellen, ein integriertes Licht-Fluoreszenz-Mikroskop (iFLM) zur Korrelation von Probenpositionen innerhalb dieses FIB/SEM-Instruments, einen integrierten Plasmareiniger und eine geeignete optische Raster-Elektronen Mikroskop Säule mit einem hochauflösenden Sekundär-Elektronen (SA) Detektor für die Kryo-Volumen-EM-Bildgebung. Zusammen mit dem "generischen" Lamellenfräsen auf einem Objektträger (d.h. auf einem TEM Grid, auch EM grid) und dem Lift-out ermöglicht es die Präparationen von Lamellen aus unterschiedlich großen Probenvolumina für die Kryo-Elektronen-Tomographie (Kryo-ET). Durch die erweiterte Ausstattung mit einen Raster-Elektronen-Mikroskop und einem Licht-Fluoreszenz-Mikroskop ermöglicht es zusätzlich eine multimodale Bildgebung über verschiedene Längenskalen hinweg, die nicht nur den Präparationsprozeß unterstützen, sondern auch in der zellulären, organismalen und zukünftig der biomedizinischen Strukturbiologie gefragt sind. Die detaillierte Leistungsbeschreibung dieses Instruments ist im Folgenden von Hersteller und Anbieterseite aufgeführt: -XHR ("extreme high-resolution")-Elektronenoptik (magnetische Immersionslinse) mit elektrostatischer Abtastung und fortschrittlicher SE-Detektion. - Eine ultrahelle NG ("next generation")-Elektronenquelle, die mit UC+ ("ultra coherent")-Technologie ausgestattet ist (d.h. monochromatisiert), um die Streuung der Strahlenergie unter 0,2 eV zu reduzieren, was eine Auflösung im Subnanometerbereich und eine hohe Oberflächenempfindlichkeit bei niedrigen Landungsenergien ermöglicht. - Komplette Reihe von Standard-Hochsensibilitätsdetektoren für eine überlegene Erkennung von SE (Sekundär-Elektronen)- und BSE- (Back-Scattered Sekundär-Elektronen) Signalen selbst bei niedrigen Landungsenergien, mit der Möglichkeit, SE- und BSE-Bilder gleichzeitig aufzunehmen. - ConstantPowerTM-Design von elektromagnetischen Linsen für ultimative Stabilität, Reproduzierbarkeit und hochpräzises Management des Elektronenstrahls. - Schnell umschaltbare PFIB-Ionensäule für mehrere Ionensorten mit herausragender Leistung für großvolumige Materialentfernung und Präzisionsfräsen. Hochauflösende Ionenoptik mit unübertroffener Bildgebung und Fräsen bis zu 500 V bei niedrigen kV, mit zweistufigem Differenzpumpen. - Automatischer, einziehbarer Schutzverschluss zur Minimierung der Materialablagerung beim Fräsen großer Volumina - Plasmareiniger zur Gewährleistung einer sauberen Probenoberfläche. Eine saubere Probenoberfläche ist besonders wichtig bei Arbeiten mit niedrigen Landungsenergien, bei denen die Ablagerungsrate von Kohlenwasserstoffen am höchsten ist und echte Probeninformationen gewünscht werden. - Gasinjektionssystem für die Ionen- oder Elektronenstrahlabscheidung von platinhaltigem Material. - Ein motorisierter 5-Achsen-euzentrischer Probenhalter mit x-y-z-Neige-Drehfunktion und einem Verfahrweg von 110 mm entlang der x- und y-Achse und einem z-Bereich von 65 mm. - Eine integrierte Strahlstrommessung. - Ein hochauflösender digitaler 16-Bit-Patterning-Motor, der Simultaneous Pattern and Imaging (SPITM) ermöglicht. - Ein integrierter "Real Time Monitor" (iRTM). - Eine Systemarchitektur, die für die Automatisierung optimiert ist, um konsistente Slice-and-View-Anwendungen zu unterstützen - Windows-Benutzeroberfläche, die für zwei 24-Zoll-Breitbild-LCD-Monitore optimiert ist und bis zu vier unabhängige Live-Bilder und ein großes Bildfenster ermöglicht. - Manuelle Benutzeroberfläche mit integrierter Tastatur für eine schnelle und intuitive Mikroskopsteuerung. Cryo-Package CX Das Cryo-Package enthält eine Cryo-fähige Infrastruktur, einschließlich Verbrauchsmaterialien und Zubehör. - Drehbarer REM-Cryo-Tisch, kompatibel mit CX-Tisch (110 mm) (Abkühlzeit auf -180 °C: <30 min) - Cryo-Präparationsstation (einschließlich AutoGrid-Clipping-Einsatz) - Controller für Präparationsstation - Probentransfergerät (Transferstab) - Cryo-Lader (SEM-Ladeschleuse für Transferstab) - Flüssigstickstoff-Dewar (Laufzeit: 24 Std.) mit Wärmetauscher (liefert Kühlgas) [Fortsetzung der Beschreibung folgt]