Beschaffung eines Hydra Bio CX Small Dual Beam Mikroskop

Am Max-Planck-Institut für Biochemie (MPIB) ist eine Forschungsgruppe für KryoEM Technologie eingerichtet. Die Gruppe widmet sich der Entwicklung und Anwendung innovativer Werkzeuge und Technologien in der Kryo-Elektronenmikroskopie (cryoEM) und insbesondere der Kryo-Elektronentomographie (cryoET). Zu Forschungszwecken möchte die Forschungsgruppe ein hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop (FE-REM bzw. FE-SEM: Field-Emission-Scanning Electron Microscope) mit einem hochmodernen …

CPV: 38511100 Rasterelektronenmikroskope, 38512100 Ionenmikroskope
Ausführungsort:
Beschaffung eines Hydra Bio CX Small Dual Beam Mikroskop
Vergabestelle:
Max-Planck-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V.
Vergabenummer:
136/25

1. Beschaffer

1.1 Beschaffer

Offizielle Bezeichnung : Max-Planck-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V.
Rechtsform des Erwerbers : Organisation, die einen durch einen öffentlichen Auftraggeber subventionierten Auftrag vergibt
Tätigkeit des öffentlichen Auftraggebers : Bildung

2. Verfahren

2.1 Verfahren

Titel : Beschaffung eines Hydra Bio CX Small Dual Beam Mikroskop
Beschreibung : Am Max-Planck-Institut für Biochemie (MPIB) ist eine Forschungsgruppe für KryoEM Technologie eingerichtet. Die Gruppe widmet sich der Entwicklung und Anwendung innovativer Werkzeuge und Technologien in der Kryo-Elektronenmikroskopie (cryoEM) und insbesondere der Kryo-Elektronentomographie (cryoET). Zu Forschungszwecken möchte die Forschungsgruppe ein hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop (FE-REM bzw. FE-SEM: Field-Emission-Scanning Electron Microscope) mit einem hochmodernen fokussierten induktiv gekoppelten Plasma-Ionenstrahl beschaffen. Das Mikroskop soll sowohl für die kryogene Probenpräparation als auch die Bildgebung, insbesondere die Kryo-Volumen-EM-Bildgebung, verwendet werden. Kryogene Proben ("Frozen-hydrated") sind vitrifizierte Proben, die sowohl mittels Schockgefrieren bei atmosphärischem Druck ("Plunge-freezing") als auch unter Hochdruck ("High-pressure freezing; HPF"), bei ca. 2000 bar, hergestellt werden. Die Proben sollen mit einem Plasma-Ionenstrahl (Focused-Ion-Beam, FIB) präpariert werden. Dieser Plasma-Ionen-Strahl dient der gezielten Entfernung von Material (Ablation). Der fokussierte induktiv gekoppelte Plasma-Ionenstrahl soll eine ortsspezifische großvolumige Materialentfernung und präzises Top-Down- und Querschnittfräsen ermöglichen. Ein wichtiger Vorteil der Verwendung von Plasmaquellen sind die höheren Strahlströme. Dies ermöglicht die Ablation von großen, unter hohem Druck gefrorenen Gewebeproben mit bis zu einer Größenordnung höheren Ablations-Raten im Vergleich zu herkömmlichen Flüssigmetall-Ionen-quellen, die häufig mit Gallium-Ionen betrieben werden.
Kennung des Verfahrens : ebcef939-dbad-4e12-bfd0-6181a4fd8a3d
Interne Kennung : 136/25
Verfahrensart : Verhandlungsverfahren ohne Aufruf zum Wettbewerb

2.1.1 Zweck

Art des Auftrags : Lieferungen
Haupteinstufung ( cpv ): 38511100 Rasterelektronenmikroskope
Zusätzliche Einstufung ( cpv ): 38512100 Ionenmikroskope

2.1.2 Erfüllungsort

Postanschrift : Am Klopferspitz 18
Stadt : Martinsried
Postleitzahl : 82152
Land, Gliederung (NUTS) : München, Landkreis ( DE21H )
Land : Deutschland

2.1.3 Wert

Geschätzter Wert ohne MwSt. : 0 Euro

2.1.4 Allgemeine Informationen

Zusätzliche Informationen : Bekanntmachungs-ID: CXP4Y0M53A5
Rechtsgrundlage :
Richtlinie 2014/24/EU
vgv -

5. Los

5.1 Technische ID des Loses : LOT-0001

Titel : Beschaffung eines Hydra Bio CX Small Dual Beam Mikroskop
Beschreibung : Kryo-FIB/SEMs (Focused-Ion-Beam Scanning Electron Microscope) werden in der Regel für die Präparation von TEM-Lamellen verwendet. Diese Lamellen, die 100-200 Nanometer dick sind und lateral mehrere zehn Mikrometer messen, sind die Grundvoraussetzung für hochauflösende Strukturuntersuchungen für die Kryo-Elektronentomographie aus biologischem Material. Der Materialverlust ist ein großes Problem und die Bearbeitungszeiten für die Erzeugung von Lamellen aus großen Proben erstrecken sich mit den derzeit in der Forschungsgruppe vorhandenen Geräten über mehrere Tage. Mit herkömmlichem Gallium-betriebenen FIBs ist dieses Problem noch vergrößert, da es sowohl in den gegebenen Abtragungsraten als auch in den verwendeten Strahlströmen limitiert ist. Proben bis maximal 40 Mikrometer Dicke können zwar bearbeitet werden, jedoch ist der Zeitaufwand dazu enorm. Schwerere Plasma-Ionen wie Xenon, die auch bei hohen Strahlströmen eine vorteilhafte lineare Beziehung aufrechterhalten, verkürzen die Zeit für die Lamellenerzeugung. Dies steht im deutlichen Gegensatz zu Gallium (Flüssigmetall-Ionen). Damit ist die Präparation von Proben die dicker sind als 40 Mikrometer mit einem Plasma FIB möglich. Dies bedeutet, dass auch Proben bis zu einer Dicke von 300 Mikrometern mit dem Plasma FIB zugänglich gemacht werden. Daher soll das Mikroskop mit Xenon-Ionen betrieben werden können. Das Mikroskop soll neben Xenon über drei weitere Arten von Plasma-Ionen verfügen, die unabhängig voneinander verwendet werden können. Konkret: Sauerstoff, Argon- und Stickstoff-Ionen. Das ermöglicht die Verfolgung von so genannten Multi-Ionen Präparationsansätzen, d.h. ein Basisfräsen mit Xenon, ein Fein-Fräsen mit Argon oder Sauerstoff, um mögliche Strahlenschäden durch den Fräsvorgang zu minimieren. Ansätze, die bereits in den Materialwissenshaften verwendet werden, jedoch noch nicht bei kryogenen Temperaturen. Dies soll nun erforscht werden. Inwieweit Stickstoff (N) Vorteile bei kryogenen Proben bietet, ist zurzeit noch wenig erforscht. Die Volumenbildgebung wird in der Regel mit Argon-Ionen durchgeführt, die zwar kleiner als Gallium-Ionen sind, aber höhere Ströme als Gallium-Ionen ermöglichen und auch weniger "Vorhang"-Artefakte ("Curtaining") beim Fräsen verursachen. Das gleiche gilt für Sauerstoff (O), welches ebenfalls Vorteile, wie geringere Aufladungen beim Fräsen als auch beim Volume-Imaging aufweist. Da große Mengen an Gewebeproben entnommen werden, ist es außerdem unerlässlich, in diesen riesigen "Landschaften", respektive Volumina navigieren zu können, bestimmte Regionen darin anzuvisieren und so den Gesamtkontext beizubehalten. Daher ist die Fähigkeit zur multimodalen Bildgebung mit Fluoreszenz-Licht-Mikroskopie bzw. mit dem Rasterelektronen-Mikroskop (REM, VolumeEM) zwingend erforderlich, um ein Navigieren zu ermöglichen und auch die verschiedenen Längenskalen zu überbrücken. Das Gerät muss sowohl das "On-the-Grid"-Lamellenfräsen als auch die Präparation von Lift-Out-Lamellen unterstützen. Dazu bedarf es eines Mikromanipulators, der die Präparation von Lift-Out-Lamellen bei kryogenen Temperaturen unterstützt. Hiermit soll das Serial-Lift-Out-Verfahren weiterentwickelt werden, welches als eine bahnbrechende Methode für den Zugang zu Gewebe und mehrzelligen Organismen auf molekularer Ebene angesehen werden kann und einen Forschungsschwerpunkt der Forschungsgruppe bildet. Die Forschung hat zum Ziel, das Serial-Lift-Out Verfahren vollständig zu automatisieren und so die Anwendung von den Fähigkeiten des Benutzers zu entkoppeln und den Prozess zu beschleunigen. Zu diesem Zweck muss die Software des Gerätes über eine Scripting-Option für die von der Forschungsgruppe selbst entwickelte Software SerialFIB verfügen. Zudem muss das Gerät über Kryo-Schleusen und Halter verfügen, die mit der bestehenden Instrumentation der Mandantin kompatibel sind.
Interne Kennung : 136/25

5.1.1 Zweck

Art des Auftrags : Lieferungen
Haupteinstufung ( cpv ): 38511100 Rasterelektronenmikroskope
Zusätzliche Einstufung ( cpv ): 38512100 Ionenmikroskope

5.1.2 Erfüllungsort

Postanschrift : Am Klopferspitz 18
Stadt : Martinsried
Postleitzahl : 82152
Land, Gliederung (NUTS) : München, Landkreis ( DE21H )
Land : Deutschland
Zusätzliche Informationen :

5.1.6 Allgemeine Informationen

Auftragsvergabeprojekt nicht aus EU-Mitteln finanziert
Die Beschaffung fällt unter das Übereinkommen über das öffentliche Beschaffungswesen : nein

5.1.7 Strategische Auftragsvergabe

Ziel der strategischen Auftragsvergabe : Keine strategische Beschaffung

5.1.10 Zuschlagskriterien

Kriterium :
Art : Qualität
Bezeichnung : Alleinstellungsmerkmal
Beschreibung : Ausschließlichkeit aus technischen Gründen i.S.v. § 14 Abs. 4 Nr. 2 lit. b) VgV
Beschreibung der anzuwendenden Methode, wenn die Gewichtung nicht durch Kriterien ausgedrückt werden kann : Ausschließlichkeit aus technischen Gründen i.S.v. § 14 Abs. 4 Nr. 2 lit. b) VgV

5.1.12 Bedingungen für die Auftragsvergabe

Auftragsbedingungen :
Dieses Verfahren fällt unter die Verordnung zu ausländischen Subventionen (FSR) : nein
Informationen über die Überprüfungsfristen : Gesetz gegen Wettbewerbsbeschränkungen(GWB) § 160 Einleitung, Antrag(1) Die Vergabekammer leitet ein Nachprüfungsverfahren nur auf Antrag ein.(2) Antragsbefugt ist jedes Unternehmen, das ein Interesse an dem öffentlichen Auftrag oder der Konzession hat und eine Verletzung in seinen Rechten nach § 97 Absatz 6 durch Nichtbeachtung von Vergabevorschriften geltend macht. Dabei ist darzulegen, dass dem Unternehmen durch die behauptete Verletzung der Vergabevorschriften ein Schadenentstanden ist oder zu entstehen droht. (3) Der Antrag ist unzulässig, soweit 1. der Antragsteller den geltend gemachten Verstoß gegen Vergabevorschriften vor Einreichen des Nachprüfungsantrags erkannt und gegenüber dem Auftraggeber nicht innerhalb einer Frist von zehn Kalendertagen gerügt hat; der Ablauf der Frist nach § 134 Absatz 2 bleibt unberührt,2. Verstöße gegen Vergabevorschriften, die aufgrund der Bekanntmachung erkennbar sind, nicht spätestens bis zum Ablauf der in der Bekanntmachung benannten Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabegegenüber dem Auftraggeber gerügt werden,3. Verstöße gegen Vergabevorschriften, die erst in den Vergabeunterlagen erkennbar sind, nicht spätestens bis zum Ablauf der Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden, 4. mehr als15 Kalendertage nach Eingang der Mitteilung des Auftraggebers, einer Rüge nicht abhelfen zu wollen, vergangen sind. Satz 1 gilt nicht bei einem Antrag auf Feststellung der Unwirksamkeit des Vertrags nach § 135 Absatz 1 Nummer 2. §134 Absatz 1 Satz 2 bleibt unberührt. Die Unwirksamkeit des Vertrages kann gemäß § 135 Abs. 2 Satz 3 innerhalb 30 Kalendertagen nach Veröffentlichung dieser Bekanntmachung geltend gemacht werden.

5.1.15 Techniken

Rahmenvereinbarung :
Keine Rahmenvereinbarung
Informationen über das dynamische Beschaffungssystem :
Kein dynamisches Beschaffungssystem

5.1.16 Weitere Informationen, Schlichtung und Nachprüfung

Überprüfungsstelle : Regierung von Oberbayern Vergabekammer Südbayern
Informationen über die Überprüfungsfristen : Gesetz gegen Wettbewerbsbeschränkungen(GWB) § 160 Einleitung, Antrag(1) Die Vergabekammer leitet ein Nachprüfungsverfahren nur auf Antrag ein.(2) Antragsbefugt ist jedes Unternehmen, das ein Interesse an dem öffentlichen Auftrag oder der Konzession hat und eine Verletzung in seinen Rechten nach § 97 Absatz 6 durch Nichtbeachtung von Vergabevorschriften geltend macht. Dabei ist darzulegen, dass dem Unternehmen durch die behauptete Verletzung der Vergabevorschriften ein Schadenentstanden ist oder zu entstehen droht. (3) Der Antrag ist unzulässig, soweit 1. der Antragsteller den geltend gemachten Verstoß gegen Vergabevorschriften vor Einreichen des Nachprüfungsantrags erkannt und gegenüber dem Auftraggeber nicht innerhalb einer Frist von zehn Kalendertagen gerügt hat; der Ablauf der Frist nach § 134 Absatz 2 bleibt unberührt,2. Verstöße gegen Vergabevorschriften, die aufgrund der Bekanntmachung erkennbar sind, nicht spätestens bis zum Ablauf der in der Bekanntmachung benannten Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabegegenüber dem Auftraggeber gerügt werden,3. Verstöße gegen Vergabevorschriften, die erst in den Vergabeunterlagen erkennbar sind, nicht spätestens bis zum Ablauf der Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden, 4. mehr als15 Kalendertage nach Eingang der Mitteilung des Auftraggebers, einer Rüge nicht abhelfen zu wollen, vergangen sind. Satz 1 gilt nicht bei einem Antrag auf Feststellung der Unwirksamkeit des Vertrags nach § 135 Absatz 1 Nummer 2. §134 Absatz 1 Satz 2 bleibt unberührt. Die Unwirksamkeit des Vertrages kann gemäß § 135 Abs. 2 Satz 3 innerhalb 30 Kalendertagen nach Veröffentlichung dieser Bekanntmachung geltend gemacht werden.
Organisation, die zusätzliche Informationen über das Vergabeverfahren bereitstellt : Max-Planck-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V.

6. Ergebnisse

Wert aller in dieser Bekanntmachung vergebenen Verträge : Nicht veröffentlicht
Begründungscode : Geschäftliche Interessen eines Wirtschaftsteilnehmers
Direktvergabe :
Begründung der Direktvergabe : Der Auftrag kann nur von einem bestimmten Wirtschaftsteilnehmer ausgeführt werden, da aus technischen Gründen kein Wettbewerb vorhanden ist
Sonstige Begründung : Nur das Hydra Bio CX Small Dual Beam Mikroskop der Firma Thermo Fisher Scientific erfüllt die gewünschten Spezifikationen. Der einzige weitere Hersteller eines Plasma-FIB/SEM, das für den Kryo-ET-Arbeitsablauf geeignet ist, ist Tescan mit dem Amber X. Das Amber X nutzt jedoch nur eine Ionenspezies (Xenon) und nicht wie gefordert vier (Xenon, Argon, Sauerstoff, Stickstoff). Außerdem besitzt das Amber X kein integriertes Fluoreszenz-Licht-Mikroskop, entspricht nicht den Anforderungen hinsichtlich Bildgebung und Auflösung und ist mit Kryo-Haltern von Drittanbietern (z. B. Quorum oder Leica) ausgestattet, die mit der bestehenden Instrumentation sowie der selbst entwickelten Software SerialFIB nicht kompatibel sind. Zeiss ist im Bereich der kryogenen Probenpräparation für die Kryo-Elektronentomographie derzeit nur eingeschränkt wettbewerbsfähig. Zwar bietet das Unternehmen FIB/SEM-Systeme mit flüssiger Metallquelle im Rahmen des Crossbeam-Correlative-Cryo-Workflows sowie Kryo-Zubehör von Drittanbietern an, jedoch kein Plasma-FIB/SEM, das den spezifischen Anforderungen der geplanten Anwendungen entspricht. Bis vor Kurzem beschränkte sich das Angebot auf ein Instrument mit Helium- und Neon-Ionenquelle ohne integrierte Elektronensäule, womit keine klassische SEM-Abbildung möglich ist. Hitachi bietet ein Ar/Xe Plasma FIB/SEM an, erweitert dieses jedoch nicht für kryogene Proben. Das Unternehmen fokussiert sich nicht auf den akademischen oder Life-Science-Markt. JEOL hat aktuell kein Plasma FIB/SEM im Produktportfolio. Sowohl Tescan als auch Zeiss verwenden Drittanbieter für entscheidende Komponenten - etwa die Luftschleuse ("airlock") für den Einbau kryogener Proben (beide: Quorum und Leica), den Probenhalter (ebenfalls Quorum und Leica) sowie den Mikromanipulator für kryogenen Lift-out. Zeiss verwendet hierfür z. B. die Omniprobe, während Tescan seit 2021 einen eigenen Mikromanipulator anbietet. Das FEI/TFS Hydra Bio CX ist mit der von der Mandantin entwickelten Software SerialFIB vollständig kompatibel. Tescan hat bislang keine funktionierende Schnittstelle bereitgestellt, ebenso wenig JEOL. Zeiss bietet inzwischen eine funktionierende Schnittstelle, jedoch kein Multi-Ion-Plasma-FIB-System. Es ist nicht absehbar, dass zeitnah dem Beschaffungsbedarf entsprechende Neuentwicklungen auf den Markt kommen. Die Entwicklungszyklen für die benötigten Technologien betragen zwischen 3 und über 10 Jahre. Der Bau eines maßgeschneiderten Geräts auf Basis der Tescan NanoSpace-Plattform wäre theoretisch möglich. Dieser würde jedoch zwei separate Ionenquellen (z. B. für Argon und Xenon) sowie Kryo-Zubehör von Drittanbietern erfordern. Die Integration bestehender Arbeitsabläufe und Software müsste eigens entwickelt werden. Eine Kompatibilität mit den vorhandenen Systemen am MPI für Biochemie ist ohne aufwendige Anpassungen nicht gegeben. Zusätzlich zu erheblichen Entwicklungs- und Zusatzkosten wäre eine Verfügbarkeit frühestens in 18 bis 20 Monaten realistisch - mit anschließender Test- und Validierungsphase. Eine Umsetzung der geplanten Anwendungen wäre damit frühestens in drei Jahren realisierbar. Das hypothetische Gerät würde außerdem nur zwei Plasma-Ionenquellen enthalten, über zwei separate Ionensäulen verfügen und auf Kryo-Zubehör von Drittanbietern angewiesen sein. Aufgrund des Aufwands und der technologischen Komplexität ist eine Sonderanfertigung nicht praktikabel und wirtschaftlich nicht vertretbar. Das Instrument Orion NanoFab von Zeiss wird nicht mehr beworben oder produziert. Weiterentwicklungen auf dieser Plattform erfolgen nicht mehr, was eine nachhaltige Nutzung im Bereich der Kryo-Elektronentomographie ausschließt. Die verwendete Gasfeld-Ionisationsquelle (GFIS) für Helium und Neon ist - im Fall von Neon - zudem nur wenige Stunden stabil betreibbar. Das System wurde für die Bearbeitung extrem kleiner Strukturen (10-100 nm) bei Raumtemperatur entwickelt und eignet sich nicht für den "lift-out" voluminöser Proben oder für kryogene Anwendungen. Selbst eine hypothetisch noch verfügbare Einheit stellt keine praktikable Alternative für die geplanten Entwicklungen dar. Die FEI Deutschland GmbH, ein 100%iges Tochterunternehmen von Thermo Fisher Scientific, besitzt die alleinigen Vertriebsrechte für das EasyLift Cryo Upgrade Package in Deutschland. Für das Hydra Bio CX bestehen folgende Patente in den USA und der Europäischen Union: Plasmaquelle: US9029812B2, US7241361B2 Abrasionsmethode mit Plasmastrahl: EP2624284B1, EP2943769B1, EP2009421A1, US20180277361A1, US9279752B2, US9941096B2 Probenträger: US9116091B2, US9772265B2, US7034316B2, US9159531B2

6.1 Ergebnis, Los-– Kennung : LOT-0001

Es wurde mindestens ein Gewinner ermittelt.

6.1.2 Informationen über die Gewinner

Wettbewerbsgewinner :
Offizielle Bezeichnung : FEI Deutschland GmbH
Angebot :
Kennung des Angebots : 1
Kennung des Loses oder der Gruppe von Losen : LOT-0001
Wert der Ausschreibung : Nicht veröffentlicht
Begründungscode : Geschäftliche Interessen eines Wirtschaftsteilnehmers
Bei dem Angebot handelt es sich um eine Variante : Nicht veröffentlicht
Begründungscode : Geschäftliche Interessen eines Wirtschaftsteilnehmers
Vergabe von Unteraufträgen : Nein
Informationen zum Auftrag :
Kennung des Auftrags : 2025-00057
Titel : Kaufvertrag
Datum der Auswahl des Gewinners : 16/06/2025
Datum des Vertragsabschlusses : 27/06/2025

6.1.4 Statistische Informationen

Eingegangene Angebote oder Teilnahmeanträge :
Art der eingegangenen Einreichungen : Angebote
Anzahl der eingegangenen Angebote oder Teilnahmeanträge : 1
Statistiken über die strategische Auftragsvergabe :

8. Organisationen

8.1 ORG-0001

Offizielle Bezeichnung : Max-Planck-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V.
Registrierungsnummer : DE129517720
Stadt : München
Postleitzahl : 80539
Land, Gliederung (NUTS) : München, Kreisfreie Stadt ( DE212 )
Land : Deutschland
Telefon : +49 89 21080
Rollen dieser Organisation :
Beschaffer
Organisation, die zusätzliche Informationen über das Vergabeverfahren bereitstellt

8.1 ORG-0002

Offizielle Bezeichnung : Regierung von Oberbayern Vergabekammer Südbayern
Registrierungsnummer : t08921762411
Stadt : München
Postleitzahl : 80534
Land, Gliederung (NUTS) : München, Kreisfreie Stadt ( DE212 )
Land : Deutschland
Telefon : +49 89 2176 2411
Rollen dieser Organisation :
Überprüfungsstelle

8.1 ORG-0003

Offizielle Bezeichnung : FEI Deutschland GmbH
Größe des Wirtschaftsteilnehmers : Großunternehmen
Registrierungsnummer : DE169256010
Postanschrift : Im Steingrund 4-6
Stadt : Dreieich
Postleitzahl : 63303
Land, Gliederung (NUTS) : Offenbach, Landkreis ( DE71C )
Land : Deutschland
Telefon : +49 (0)1520 4230115
Rollen dieser Organisation :
Bieter
Wirtschaftlicher Eigentümer
Staatsangehörigkeit des Eigentümers : Deutschland
Gewinner dieser Lose : LOT-0001

8.1 ORG-0004

Offizielle Bezeichnung : Datenservice Öffentlicher Einkauf (in Verantwortung des Beschaffungsamts des BMI)
Registrierungsnummer : 0204:994-DOEVD-83
Stadt : Bonn
Postleitzahl : 53119
Land, Gliederung (NUTS) : Bonn, Kreisfreie Stadt ( DEA22 )
Land : Deutschland
Telefon : +49228996100
Rollen dieser Organisation :
TED eSender

11. Informationen zur Bekanntmachung

11.1 Informationen zur Bekanntmachung

Kennung/Fassung der Bekanntmachung : dd014e1e-5934-4605-a7b8-c02aaad5432e - 01
Formulartyp : Ergebnis
Art der Bekanntmachung : Bekanntmachung vergebener Aufträge oder Zuschlagsbekanntmachung – Standardregelung
Datum der Übermittlung der Bekanntmachung : 03/07/2025 09:17 +02:00
Sprachen, in denen diese Bekanntmachung offiziell verfügbar ist : Deutsch

11.2 Informationen zur Veröffentlichung

Veröffentlichungsnummer der Bekanntmachung : 00436282-2025
ABl. S – Nummer der Ausgabe : 126/2025
Datum der Veröffentlichung : 04/07/2025