Вашето търсене на Електронни сканиращи микроскопи (с подвижен електронен лъч)
Брой намерени сигнали: 16

Zeiss GeminiSEM 460 with Volutome

Electron Microscopy Unit (EMBI) is acquiring an automated serial block face scanning electron microscope (SBF-SEM) suitable especially for large volumes and broad variety of specimen types. The new system will replace the aged system, which has been the most used instrument of the unit, used in numerous high-profile projects and …

CPV: 38511100 Електронни сканиращи микроскопи (с подвижен електронен лъч)
Място на изпълнение:
Zeiss GeminiSEM 460 with Volutome
Издаващ орган:
University of Helsinki
Номер на наградата:
529956
Публикация:
Март 28, 2025, 3:01 преди обяд
FORNITURA DI UN MICROSCOPIO ELETTRONICO

GARA EUROPEA A PROCEDURA APERTA PER LA FORNITURA DI UN MICROSCOPIO ELETTRONICO FORNITURA DI UN MICROSCOPIO ELETTRONICO A SCANSIONE A EMISSIONE DI CAMPO (FESEM) AD ULTRA-ALTA RISOLUZIONE PER ANALISI IN ALTO VUOTO E PRESSIONE VARIABILE

CPV: 38511100 Електронни сканиращи микроскопи (с подвижен електронен лъч)
Място на изпълнение:
FORNITURA DI UN MICROSCOPIO ELETTRONICO
Издаващ орган:
Università degli Studi di Roma Tor Vergata
Номер на наградата:
1
Публикация:
Март 27, 2025, 3:36 преди обяд
Aquisição de 1 (um) Microscópio Eletrónico de Varrimento, para o Laboratório Associado CICECO – Instituto de Materiais de Aveiro da Universidade de Aveiro

Aquisição de 1 (um) Microscópio Eletrónico de Varrimento, para o Laboratório Associado CICECO – Instituto de Materiais de Aveiro da Universidade de Aveiro Aquisição de 1 (um) Microscópio Eletrónico de Varrimento, para o Laboratório Associado CICECO – Instituto de Materiais de Aveiro da Universidade de Aveiro

CPV: 38511100 Електронни сканиращи микроскопи (с подвижен електронен лъч)
Място на изпълнение:
Aquisição de 1 (um) Microscópio Eletrónico de Varrimento, para o Laboratório Associado CICECO – Instituto de Materiais de Aveiro da Universidade de Aveiro
Издаващ орган:
Universidade de Aveiro
Номер на наградата:
1
Публикация:
Март 27, 2025, 2:51 преди обяд
Skaneeriv elektronmikroskoop

Energiadispersiivse röntgen-mikroanalüsaatoriga varustatud skaneeriv elektronmikroskoop Energiadispersiivse röntgen-mikroanalüsaatoriga varustatud skaneeriv elektronmikroskoop

CPV: 38511100 Електронни сканиращи микроскопи (с подвижен електронен лъч)
Място на изпълнение:
Skaneeriv elektronmikroskoop
Издаващ орган:
Tallinna Tehnikaülikool
Номер на наградата:
290090
Публикация:
Март 22, 2025, 1:27 преди обяд
Rasterkraftmikroskop (AFM)

Rasterkraftmikroskop (AFM) Beschafft wird ein Rasterkraftmikroskop (AFM; engl. Atomic Force Microscope) mit einem Scanbereich in x- und y-Richtung von mind. 90µm für die Charakterisierung von Topologien im speziellen im Kontext von elektrischen Halbleiterbauteilen. Das Gerät ist als integraler Bestandteil des halbleitertechnologischen Reinraums des Forschungsgebäudes INCYTE der Naturwissenschaftlich-Technischen Fakultät der Universität …

CPV: 38000000 Лабораторно, оптично и прецизно оборудване (без стъклени изделия), 38511100 Електронни сканиращи микроскопи (с подвижен електронен лъч)
Място на изпълнение:
Rasterkraftmikroskop (AFM)
Издаващ орган:
Universität Siegen
Номер на наградата:
02-NL25E1OV
Публикация:
Март 18, 2025, 4:46 преди обяд
Sistema di telepatologia

Indizione Procedura aperta per la stipula di una “Convenzione triennale per la fornitura in locazione inclusive service di Sistemi di Telepatologia per le AA.SS. della Regione Toscana – CUI 2023-022-0006” Sistema per Telepatologia

CPV: 38511100 Електронни сканиращи микроскопи (с подвижен електронен лъч)
Краен срок:
Апр. 30, 2025, 4 след обяд
Вид на крайния срок:
Подаване на оферта
Място на изпълнение:
Sistema di telepatologia
Издаващ орган:
ESTAR - Ente di Supporto Tecnico Amministrativo Regionale
Номер на наградата:
1
Публикация:
Март 15, 2025, 2:24 преди обяд