Вашето търсене на Електронни сканиращи микроскопи (с подвижен електронен лъч)
Брой намерени сигнали: 14

Erweiterungskomponenten zur Einrichtung von zwei modularen AFMs

Im Zentrum dieses Verfahrens steht die Entwicklung einer innovativen Plattform zur rasterkraftmikroskopischen Analyse biologischer Proben auf molekularer und zellulärer Ebene, sowohl unter Standard-Biosicherheitsbedingungen (S2) als auch unter hohen Sicherheitsauflagen (S3). Ziel ist es, dynamische Prozesse wie Protein-Protein-Interaktionen, Zell-Zell-Adhäsion, Rezeptorbindung oder die mechanische Entfaltung von Molekülen in realitätsnahen Umgebungen zu untersuchen …

CPV: 38511100 Електронни сканиращи микроскопи (с подвижен електронен лъч)
Място на изпълнение:
Erweiterungskomponenten zur Einrichtung von zwei modularen AFMs
Издаващ орган:
Universität Hamburg
Номер на наградата:
UHH_2025050_VVfoTnW
Публикация:
Септ. 6, 2025, 12:21 преди обяд
Feldemissionsrasterelektronenmikroskop

Feldemissionsrasterelektronenmikroskop Feldemissionsrasterelektronenmikroskop ausgestattet mit EBSD und EDX

CPV: 38511100 Електронни сканиращи микроскопи (с подвижен електронен лъч)
Краен срок:
Окт. 7, 2025, 11 преди обяд
Вид на крайния срок:
Подаване на оферта
Място на изпълнение:
Feldemissionsrasterelektronenmikroskop
Издаващ орган:
Technische Universität Bergakademie Freiberg
Номер на наградата:
041-2025L
Публикация:
Септ. 5, 2025, 1:43 преди обяд
Systém skenovacej elektrónovej mikroskopie (SEM) vybavený FIB, 3D-EBSD, 3D-EDS detektormi a Spektrometrom na súčasné meranie spektier pre rôzne energie, za účelom analýzy ľahkých kovových prvkov vrátane lítia (Li)

Predmetom zákazky je dodávka, inštalácia a zaškolenie pre prácu, vrátane aplikačného školenia, na zostave skenovacej elektrónovej mikroskopie pozostávajúcej z FIB-SEM mikroskopu s iónovým zväzkom, vybaveným analytickými metódami EDS, EBSD a spektrometrom na súčasné meranie spektier pre rôzne energie. Zariadenie je obstarávané v rámci projektu s názvom „Vývoj a dizajn udržateľných …

CPV: 38511100 Електронни сканиращи микроскопи (с подвижен електронен лъч), 38512100 Йонни микроскопи
Краен срок:
Септ. 12, 2025, 10 преди обяд
Вид на крайния срок:
Подаване на оферта
Място на изпълнение:
Systém skenovacej elektrónovej mikroskopie (SEM) vybavený FIB, 3D-EBSD, 3D-EDS detektormi a Spektrometrom na súčasné meranie spektier pre rôzne energie, za účelom analýzy ľahkých kovových prvkov vrátane lítia (Li)
Издаващ орган:
Ústav materiálového výskumu Slovenskej akadémie vied, verejná výskumná inštitúcia
Номер на наградата:
539 470
Публикация:
Септ. 3, 2025, 2:04 преди обяд
Feldemissionsrasterelektronenmikroskop

Feldemissionsrasterelektronenmikroskop Feldemissionsrasterelektronenmikroskop ausgestattet mit EBSD und EDX

CPV: 38511100 Електронни сканиращи микроскопи (с подвижен електронен лъч)
Краен срок:
Окт. 7, 2025, 11 преди обяд
Вид на крайния срок:
Подаване на оферта
Място на изпълнение:
Feldemissionsrasterelektronenmikroskop
Издаващ орган:
Technische Universität Bergakademie Freiberg
Номер на наградата:
041-2025L
Публикация:
Септ. 2, 2025, 2:40 преди обяд
Dodávka elektronového mikroskopu“ (0442000015)

Předmětem plnění veřejné zakázky je dodání skenovacího elektronového mikroskopu, a to zejména pro část archeologické sbírky zadavatele, kde konkrétně se jedná o: -dodání elektronového mikroskopu včetně příslušenství (dále jen „Mikroskop“) na místo plnění veřejné zakázky, tj. na adresu: Pod Viaduktem 2595/3, 155 00 Praha 5 – Stodůlky, včetně veškerých manuálů …

CPV: 38511100 Електронни сканиращи микроскопи (с подвижен електронен лъч)
Място на изпълнение:
Dodávka elektronového mikroskopu“ (0442000015)
Издаващ орган:
Muzeum hlavního města Prahy, příspěvková organizace
Номер на наградата:
41/2025
Публикация:
Септ. 2, 2025, 2:02 преди обяд
Rasterelektronenmikroskop

Lieferung eines Rasterelektronenmikroskops Lieferung eines Rasterelektronenmikroskops

CPV: 38511100 Електронни сканиращи микроскопи (с подвижен електронен лъч)
Краен срок:
Септ. 25, 2025, 1 след обяд
Вид на крайния срок:
Подаване на оферта
Място на изпълнение:
Rasterelektronenmikroskop
Издаващ орган:
Bundesministerium für Inneres
Номер на наградата:
Verfahrens ID: 141797
Публикация:
Авг. 27, 2025, 1:17 преди обяд
25/2025 Rasterelektronenmikroskop

Das Institut für Metallische Konstruktionswerkstoffe der Johannes Kepler Universität plant die Anschaffung eines Rasterelektronenmikroskops. Das Rasterelektronenmikroskop soll für materialwissenschaftliche Untersuchungen eingesetzt werden können. Untersucht werden leitende Materialien und nichtleitende Materialien. Lieferung eines Rasterelektronenmikroskops

CPV: 38511100 Електронни сканиращи микроскопи (с подвижен електронен лъч)
Място на изпълнение:
25/2025 Rasterelektronenmikroskop
Издаващ орган:
Johannes Kepler Universität Linz
Номер на наградата:
252025
Публикация:
Авг. 26, 2025, 2:52 преди обяд
Erweiterungskomponenten zur Einrichtung von zwei modularen AFMs

Im Zentrum dieses Verfahrens steht die Entwicklung einer innovativen Plattform zur rasterkraftmikroskopischen Analyse biologischer Proben auf molekularer und zellulärer Ebene, sowohl unter Standard-Biosicherheitsbedingungen (S2) als auch unter hohen Sicherheitsauflagen (S3). Ziel ist es, dynamische Prozesse wie Protein-Protein-Interaktionen, Zell-Zell-Adhäsion, Rezeptorbindung oder die mechanische Entfaltung von Molekülen in realitätsnahen Umgebungen zu untersuchen …

CPV: 38511100 Електронни сканиращи микроскопи (с подвижен електронен лъч)
Място на изпълнение:
Erweiterungskomponenten zur Einrichtung von zwei modularen AFMs
Издаващ орган:
Universität Hamburg
Номер на наградата:
UHH_2025050_VVfoTnW
Публикация:
Авг. 19, 2025, 12:28 преди обяд
Desktop REM für die University of Namibia (UNAM) in Windhoek, Namibia

Lieferung eines Desktop REM an die University of Namibia (UNAM) in Windhoek, Namibia Lieferung eines Desktop REM an die University of Namibia (UNAM) in Windhoek, Namibia

CPV: 38511100 Електронни сканиращи микроскопи (с подвижен електронен лъч)
Краен срок:
Септ. 12, 2025, 11 преди обяд
Вид на крайния срок:
Подаване на оферта
Място на изпълнение:
Desktop REM für die University of Namibia (UNAM) in Windhoek, Namibia
Издаващ орган:
Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)
Номер на наградата:
21 / 25
Публикация:
Авг. 15, 2025, 1:59 преди обяд
Scanning Electron Microscope (SEM) for rock samples

Uppsala university, Department of Earth Sciences, hereby invites to a procurement regarding a tabletop scanning electron microscope (SEM) to be used for analyses of rock surface samples including thin sections, single mineral crystals, and larger natural rock surfaces with mineralogical variations. The rock surface samples are of hand specimen size …

CPV: 38000000 Лабораторно, оптично и прецизно оборудване (без стъклени изделия), 38510000 Микроскопи, 38511100 Електронни сканиращи микроскопи (с подвижен електронен лъч)
Място на изпълнение:
Scanning Electron Microscope (SEM) for rock samples
Издаващ орган:
Uppsala universitet
Номер на наградата:
UH 2024/39
Публикация:
Авг. 9, 2025, 1:54 преди обяд