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Beschaffung einer Kryo-Plasma-Fokussiertes Ionenstrahl- Rasterelektronenmikroskop (Kryo-pFIB-SEM)

Beschaffung einer Kryo-Plasma-Fokussiertes Ionenstrahl- Rasterelektronenmikroskop (Kryo-pFIB-SEM), d.h. ein komplett neues vollautomatisiertes Plasma-Focused-Ion-Beam Rasterelektronenmikroskop. Beschaffung einer Kryo-Plasma-Fokussiertes Ionenstrahl- Rasterelektronenmikroskop (Kryo-pFIB-SEM), d.h. ein komplett neues vollautomatisiertes Plasma-Focused-Ion-Beam Rasterelektronenmikroskop.

CPV: 38511000 Elektronmikroskop
Plats för avrättning:
Beschaffung einer Kryo-Plasma-Fokussiertes Ionenstrahl- Rasterelektronenmikroskop (Kryo-pFIB-SEM)
Plats för tilldelning:
Der Kanzler der Johann Wolfgang Goethe-Universität, Bereich Finanzen und Controlling, Einkaufsmanagement
Tilldelningsnummer:
9_41_16_VgV_EM21A_BMLS_01_25
Publikation:
4 juli 2025 02:49
JKU Linz: 22/2025 Upgrade Transmissionselektronenmikroskop auf ein Cryo-TEM

Erweiterung des bereits vorhandenen Transmissionselektronenmikroskops (Talos L120C G2) auf ein Cryo-Elektronenmikroskop (Lieferung, Aufbau, Inbetriebnahme, Schulung) Erweiterung des bereits vorhandenen Transmissionselektronenmikroskops (Talos L120C G2) auf ein Cryo-Elektronenmikroskop (Lieferung, Aufbau, Inbetriebnahme, Schulung)

CPV: 38511000 Elektronmikroskop
Sista ansökningsdag:
1 augusti 2025 10:00
Typ av tidsfrist:
Inlämnande av anbud
Plats för avrättning:
JKU Linz: 22/2025 Upgrade Transmissionselektronenmikroskop auf ein Cryo-TEM
Plats för tilldelning:
Johannes Kepler Universität Linz
Tilldelningsnummer:
22/2025 Upgrade Transmissionselektronenmikroskop auf ein Cryo-TEM
Publikation:
26 juni 2025 13:23
FIB / TEM Ga Focused Ion Beam Instrument and Transmission Electron Microscope

The two instruments shall warrant a smooth workflow for TEM sample preparation by FIB and state-of-the-art sample characterization by analytical, high-resolution TEM/STEM, particularly, but not exclusively. A broad spectrum of materials science samples shall be addressed, including highly fragile and beam-sensitive samples such as, e.g., Li-based thin-film battery materials, carbon-based …

CPV: 38000000 Laboratorieutrustning, optisk utrustning och precisionsutrustning (exkl. glas), 38511000 Elektronmikroskop
Sista ansökningsdag:
10 augusti 2025 23:59
Typ av tidsfrist:
Inlämnande av anbud
Plats för avrättning:
FIB / TEM Ga Focused Ion Beam Instrument and Transmission Electron Microscope
Plats för tilldelning:
Empa zentraler Einkauf
Tilldelningsnummer:
Publikation:
21 juni 2025 07:08
REM 2025 mit EDX

Die Kantonspolizei St.Gallen möchte duch eine Ersatzbeschaffung das alte REM Raster-elektronenmikroskop (inkl. EDX) durch ein System welches auf dem heutigen Stand der Technik ist, ersetzen. Das Ersatzsystem soll uns erlauben, folgende Aufgaben zu lösen: * Schmauchuntersuchung: Wir wollen Proben (REM-Stubs) rasch und automatisch nach Schmauchpartikeln (konventionell und schwermetallfrei) absuchen. Die …

CPV: 38000000 Laboratorieutrustning, optisk utrustning och precisionsutrustning (exkl. glas), 38511000 Elektronmikroskop
Sista ansökningsdag:
8 augusti 2025 17:00
Typ av tidsfrist:
Inlämnande av anbud
Plats för avrättning:
REM 2025 mit EDX
Plats för tilldelning:
Kantonspolizei St.Gallen
Tilldelningsnummer:
Publikation:
27 maj 2025 06:07