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Contrato mixto de suministro y servicio de mantenimiento de un microscopio electrónico de barrido para el Museo Nacional del Prado.

El presente contrato tiene por objeto el suministro de un microscopio electrónico de barrido (SEM) que permita operar tanto en condiciones de alto como de bajo vacío, con capacidad de ampliación futura e integración de detectores adicionales. El equipo deberá incorporar tecnología de última generación en óptica electrónica, así como …

CPV: 38511100 Skenovacie elektrónové mikroskopy, 50430000 Opravy a údržba presných zariadení
Termín:
7. november 2025 23:59
Typ termínu:
Predloženie ponuky
Miesto vykonania:
Contrato mixto de suministro y servicio de mantenimiento de un microscopio electrónico de barrido para el Museo Nacional del Prado.
Udeľujúci orgán:
Dirección del Museo Nacional del Prado
Číslo udelenia:
25AA0295
Publikácia:
9. október 2025 8:02
Herstellung und Lieferung von zwei Gammaspektrometern, dem Low-Energy-High Purity Germanium-Gammaspektrometer (LE-HP-Ge-Gammaspek.)und dem High Purity Germanium-Gammaspektrometer (HP-Ge-Gammasp.)

Das Gammaspektrometer ist eine Messapparatur zur Untersuchung radioaktiver Substanzen. Hauptbestandteil eines Gammaspektrometers ist ein Strahlungsdetektor, daneben besteht ein Gammaspektrometer aus folgenden weiteren Komponenten: Kühleinheit, Mess- und Steuerrechner inkl. Software und Bleiabschirmung. Das zu beschaffende HP-Ge-Gammaspektrometer dient der Ausbildung der Soldaten auf dem Gebiet der ABC-Abwehr und zur Durchführung analytischer Aufgaben …

CPV: 38945000 Merače žiarenia gama, 38942000 Merače žiarenia alfa a beta, 38511100 Skenovacie elektrónové mikroskopy, 38341500 Prístroje na monitorovanie kontaminácie
Miesto vykonania:
Herstellung und Lieferung von zwei Gammaspektrometern, dem Low-Energy-High Purity Germanium-Gammaspektrometer (LE-HP-Ge-Gammaspek.)und dem High Purity Germanium-Gammaspektrometer (HP-Ge-Gammasp.)
Udeľujúci orgán:
Bundesamt für Ausrüstung, Informationstechnik und Nutzung der Bundeswehr
Číslo udelenia:
Q/U2AK/QA027/IA263
Publikácia:
9. október 2025 7:01
Rasterelektronenmikroskop

Lieferung eines Rasterelektronenmikroskops Lieferung eines Rasterelektronenmikroskops (REM) mit energiedispersiver Röntgenanalytik (EDX) inklusive Installation und Schulung

CPV: 38511100 Skenovacie elektrónové mikroskopy
Termín:
6. november 2025 12:00
Typ termínu:
Predloženie ponuky
Miesto vykonania:
Rasterelektronenmikroskop
Udeľujúci orgán:
Technische Universität Dortmund
Číslo udelenia:
2025-151
Publikácia:
8. október 2025 9:00
Suministro e instalación de un microscopio electrónico de barrido de emisión de campo con filamento tipo schottky y cañón de iones focalizados con sistema de microanálisis EDS (Energy Dispersive X-ray Spectroscopy) para investigación en ciencia de materiales, destinado al Centro Nacional de Investigaciones Metalúrgicas de la Agencia Estatal Consejo Superior de Investigaciones Científicas

Según se indica en la memoria justificativa de las especificaciones técnicas, en la memoria justificativa de la necesidad de contratar, y en el pliego de prescripciones técnicas. Según se indica en la memoria justificativa de las especificaciones técnicas, en la memoria justificativa de la necesidad de contratar, y en el …

CPV: 38511000 Elektrónové mikroskopy, 38511100 Skenovacie elektrónové mikroskopy, 38512000 Iónové a molekulárne mikroskopy
Termín:
5. november 2025 14:00
Typ termínu:
Predloženie ponuky
Miesto vykonania:
Suministro e instalación de un microscopio electrónico de barrido de emisión de campo con filamento tipo schottky y cañón de iones focalizados con sistema de microanálisis EDS (Energy Dispersive X-ray Spectroscopy) para investigación en ciencia de materiales, destinado al Centro Nacional de Investigaciones Metalúrgicas de la Agencia Estatal Consejo Superior de Investigaciones Científicas
Udeľujúci orgán:
Secretaría General de la Agencia Estatal Consejo Superior de Investigaciones Científicas
Číslo udelenia:
33969/25
Publikácia:
4. október 2025 1:51
Un microscope électronique à balayage en série

L'EPFL a l'intention d'acquérir un microscope électronique à balayage en série conçu pour l'imagerie à haute résolution de coupes minces en série et la microscopie électronique à balayage en série (SBF-SEM). Le système doit inclure un ultramicrotome facilement démontable pour l'automatisation des coupes et de l'imagerie en série. Ce microscope …

CPV: 38511100 Skenovacie elektrónové mikroskopy
Miesto vykonania:
Un microscope électronique à balayage en série
Udeľujúci orgán:
EPFL-Scientific Equipment
Číslo udelenia:
Publikácia:
18. september 2025 1:47
Suministro e instalación de un Equipo de Microscopía y Litografía por Electrones de bajo voltaje con Stage Interferométrico y capacidades para Metrología, destinado al Instituto de Microelectrónica de Barcelona de la Agencia Estatal Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC).

Según se indica en la memoria justificativa de las especificaciones técnicas, en la memoria justificativa de la necesidad de contratar, y en el pliego de prescripciones técnicas. Según se indica en la memoria justificativa de las especificaciones técnicas, en la memoria justificativa de la necesidad de contratar, y en el …

CPV: 38511100 Skenovacie elektrónové mikroskopy, 31712100 Mikroelektronické stroje a prístroje, 42990000 Rôzne špeciálne strojové zariadenia
Miesto vykonania:
Suministro e instalación de un Equipo de Microscopía y Litografía por Electrones de bajo voltaje con Stage Interferométrico y capacidades para Metrología, destinado al Instituto de Microelectrónica de Barcelona de la Agencia Estatal Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC).
Udeľujúci orgán:
Presidencia de la Agencia Estatal Consejo Superior de Investigaciones Científicas, M.P.
Číslo udelenia:
33398/25
Publikácia:
16. september 2025 1:09