Vaše vyhľadávanie Skenovacie elektrónové mikroskopy
Počet nájdených varovaní: 16

Zeiss GeminiSEM 460 with Volutome

Electron Microscopy Unit (EMBI) is acquiring an automated serial block face scanning electron microscope (SBF-SEM) suitable especially for large volumes and broad variety of specimen types. The new system will replace the aged system, which has been the most used instrument of the unit, used in numerous high-profile projects and …

CPV: 38511100 Skenovacie elektrónové mikroskopy
Miesto vykonania:
Zeiss GeminiSEM 460 with Volutome
Udeľujúci orgán:
University of Helsinki
Číslo udelenia:
529956
Publikácia:
28. marec 2025 3:01
FORNITURA DI UN MICROSCOPIO ELETTRONICO

GARA EUROPEA A PROCEDURA APERTA PER LA FORNITURA DI UN MICROSCOPIO ELETTRONICO FORNITURA DI UN MICROSCOPIO ELETTRONICO A SCANSIONE A EMISSIONE DI CAMPO (FESEM) AD ULTRA-ALTA RISOLUZIONE PER ANALISI IN ALTO VUOTO E PRESSIONE VARIABILE

CPV: 38511100 Skenovacie elektrónové mikroskopy
Miesto vykonania:
FORNITURA DI UN MICROSCOPIO ELETTRONICO
Udeľujúci orgán:
Università degli Studi di Roma Tor Vergata
Číslo udelenia:
1
Publikácia:
27. marec 2025 3:36
Aquisição de 1 (um) Microscópio Eletrónico de Varrimento, para o Laboratório Associado CICECO – Instituto de Materiais de Aveiro da Universidade de Aveiro

Aquisição de 1 (um) Microscópio Eletrónico de Varrimento, para o Laboratório Associado CICECO – Instituto de Materiais de Aveiro da Universidade de Aveiro Aquisição de 1 (um) Microscópio Eletrónico de Varrimento, para o Laboratório Associado CICECO – Instituto de Materiais de Aveiro da Universidade de Aveiro

CPV: 38511100 Skenovacie elektrónové mikroskopy
Miesto vykonania:
Aquisição de 1 (um) Microscópio Eletrónico de Varrimento, para o Laboratório Associado CICECO – Instituto de Materiais de Aveiro da Universidade de Aveiro
Udeľujúci orgán:
Universidade de Aveiro
Číslo udelenia:
1
Publikácia:
27. marec 2025 2:51
Skaneeriv elektronmikroskoop

Energiadispersiivse röntgen-mikroanalüsaatoriga varustatud skaneeriv elektronmikroskoop Energiadispersiivse röntgen-mikroanalüsaatoriga varustatud skaneeriv elektronmikroskoop

CPV: 38511100 Skenovacie elektrónové mikroskopy
Miesto vykonania:
Skaneeriv elektronmikroskoop
Udeľujúci orgán:
Tallinna Tehnikaülikool
Číslo udelenia:
290090
Publikácia:
22. marec 2025 1:27
Rasterkraftmikroskop (AFM)

Rasterkraftmikroskop (AFM) Beschafft wird ein Rasterkraftmikroskop (AFM; engl. Atomic Force Microscope) mit einem Scanbereich in x- und y-Richtung von mind. 90µm für die Charakterisierung von Topologien im speziellen im Kontext von elektrischen Halbleiterbauteilen. Das Gerät ist als integraler Bestandteil des halbleitertechnologischen Reinraums des Forschungsgebäudes INCYTE der Naturwissenschaftlich-Technischen Fakultät der Universität …

CPV: 38000000 Laboratórne, optické a presné prístroje a vybavenie (s výnimkou skiel), 38511100 Skenovacie elektrónové mikroskopy
Miesto vykonania:
Rasterkraftmikroskop (AFM)
Udeľujúci orgán:
Universität Siegen
Číslo udelenia:
02-NL25E1OV
Publikácia:
18. marec 2025 4:46
Sistema di telepatologia

Indizione Procedura aperta per la stipula di una “Convenzione triennale per la fornitura in locazione inclusive service di Sistemi di Telepatologia per le AA.SS. della Regione Toscana – CUI 2023-022-0006” Sistema per Telepatologia

CPV: 38511100 Skenovacie elektrónové mikroskopy
Termín:
30. apríl 2025 16:00
Typ termínu:
Predloženie ponuky
Miesto vykonania:
Sistema di telepatologia
Udeľujúci orgán:
ESTAR - Ente di Supporto Tecnico Amministrativo Regionale
Číslo udelenia:
1
Publikácia:
15. marec 2025 2:24