Căutarea dumneavoastră pentru Microscoape electronice cu scanare
Numărul de alerte găsite: 15

FORNITURA DI UN MICROSCOPIO ELETTRONICO

GARA EUROPEA A PROCEDURA APERTA PER LA FORNITURA DI UN MICROSCOPIO ELETTRONICO FORNITURA DI UN MICROSCOPIO ELETTRONICO A SCANSIONE A EMISSIONE DI CAMPO (FESEM) AD ULTRA-ALTA RISOLUZIONE PER ANALISI IN ALTO VUOTO E PRESSIONE VARIABILE

CPV: 38511100 Microscoape electronice cu scanare
Locul de executare:
FORNITURA DI UN MICROSCOPIO ELETTRONICO
Organismul de alocare:
Università degli Studi di Roma Tor Vergata
Numărul de atribuire:
1
Publicație:
27 Martie 2025, 03:36
Aquisição de 1 (um) Microscópio Eletrónico de Varrimento, para o Laboratório Associado CICECO – Instituto de Materiais de Aveiro da Universidade de Aveiro

Aquisição de 1 (um) Microscópio Eletrónico de Varrimento, para o Laboratório Associado CICECO – Instituto de Materiais de Aveiro da Universidade de Aveiro Aquisição de 1 (um) Microscópio Eletrónico de Varrimento, para o Laboratório Associado CICECO – Instituto de Materiais de Aveiro da Universidade de Aveiro

CPV: 38511100 Microscoape electronice cu scanare
Locul de executare:
Aquisição de 1 (um) Microscópio Eletrónico de Varrimento, para o Laboratório Associado CICECO – Instituto de Materiais de Aveiro da Universidade de Aveiro
Organismul de alocare:
Universidade de Aveiro
Numărul de atribuire:
1
Publicație:
27 Martie 2025, 02:51
Skaneeriv elektronmikroskoop

Energiadispersiivse röntgen-mikroanalüsaatoriga varustatud skaneeriv elektronmikroskoop Energiadispersiivse röntgen-mikroanalüsaatoriga varustatud skaneeriv elektronmikroskoop

CPV: 38511100 Microscoape electronice cu scanare
Locul de executare:
Skaneeriv elektronmikroskoop
Organismul de alocare:
Tallinna Tehnikaülikool
Numărul de atribuire:
290090
Publicație:
22 Martie 2025, 01:27
Rasterkraftmikroskop (AFM)

Rasterkraftmikroskop (AFM) Beschafft wird ein Rasterkraftmikroskop (AFM; engl. Atomic Force Microscope) mit einem Scanbereich in x- und y-Richtung von mind. 90µm für die Charakterisierung von Topologien im speziellen im Kontext von elektrischen Halbleiterbauteilen. Das Gerät ist als integraler Bestandteil des halbleitertechnologischen Reinraums des Forschungsgebäudes INCYTE der Naturwissenschaftlich-Technischen Fakultät der Universität …

CPV: 38000000 Echipamente de laborator, optice şi de precizie (cu excepţia ochelarilor), 38511100 Microscoape electronice cu scanare
Locul de executare:
Rasterkraftmikroskop (AFM)
Organismul de alocare:
Universität Siegen
Numărul de atribuire:
02-NL25E1OV
Publicație:
18 Martie 2025, 04:46
Sistema di telepatologia

Indizione Procedura aperta per la stipula di una “Convenzione triennale per la fornitura in locazione inclusive service di Sistemi di Telepatologia per le AA.SS. della Regione Toscana – CUI 2023-022-0006” Sistema per Telepatologia

CPV: 38511100 Microscoape electronice cu scanare
Termen limită:
30 Aprilie 2025, 16:00
Tipul de termen limită:
Depunerea unei oferte
Locul de executare:
Sistema di telepatologia
Organismul de alocare:
ESTAR - Ente di Supporto Tecnico Amministrativo Regionale
Numărul de atribuire:
1
Publicație:
15 Martie 2025, 02:24