Twoje poszukiwania Skanujące mikroskopy elektronowe
Liczba znalezionych wpisów: 15

FORNITURA DI UN MICROSCOPIO ELETTRONICO

GARA EUROPEA A PROCEDURA APERTA PER LA FORNITURA DI UN MICROSCOPIO ELETTRONICO FORNITURA DI UN MICROSCOPIO ELETTRONICO A SCANSIONE A EMISSIONE DI CAMPO (FESEM) AD ULTRA-ALTA RISOLUZIONE PER ANALISI IN ALTO VUOTO E PRESSIONE VARIABILE

CPV: 38511100 Skanujące mikroskopy elektronowe
Miejsce wykonania:
FORNITURA DI UN MICROSCOPIO ELETTRONICO
Miejsce udzielenia zamówienia:
Università degli Studi di Roma Tor Vergata
Numer nagrody:
1
Publikacja:
27 marca 2025 03:36
Aquisição de 1 (um) Microscópio Eletrónico de Varrimento, para o Laboratório Associado CICECO – Instituto de Materiais de Aveiro da Universidade de Aveiro

Aquisição de 1 (um) Microscópio Eletrónico de Varrimento, para o Laboratório Associado CICECO – Instituto de Materiais de Aveiro da Universidade de Aveiro Aquisição de 1 (um) Microscópio Eletrónico de Varrimento, para o Laboratório Associado CICECO – Instituto de Materiais de Aveiro da Universidade de Aveiro

CPV: 38511100 Skanujące mikroskopy elektronowe
Miejsce wykonania:
Aquisição de 1 (um) Microscópio Eletrónico de Varrimento, para o Laboratório Associado CICECO – Instituto de Materiais de Aveiro da Universidade de Aveiro
Miejsce udzielenia zamówienia:
Universidade de Aveiro
Numer nagrody:
1
Publikacja:
27 marca 2025 02:51
Skaneeriv elektronmikroskoop

Energiadispersiivse röntgen-mikroanalüsaatoriga varustatud skaneeriv elektronmikroskoop Energiadispersiivse röntgen-mikroanalüsaatoriga varustatud skaneeriv elektronmikroskoop

CPV: 38511100 Skanujące mikroskopy elektronowe
Miejsce wykonania:
Skaneeriv elektronmikroskoop
Miejsce udzielenia zamówienia:
Tallinna Tehnikaülikool
Numer nagrody:
290090
Publikacja:
22 marca 2025 01:27
Rasterkraftmikroskop (AFM)

Rasterkraftmikroskop (AFM) Beschafft wird ein Rasterkraftmikroskop (AFM; engl. Atomic Force Microscope) mit einem Scanbereich in x- und y-Richtung von mind. 90µm für die Charakterisierung von Topologien im speziellen im Kontext von elektrischen Halbleiterbauteilen. Das Gerät ist als integraler Bestandteil des halbleitertechnologischen Reinraums des Forschungsgebäudes INCYTE der Naturwissenschaftlich-Technischen Fakultät der Universität …

CPV: 38000000 Sprzęt laboratoryjny, optyczny i precyzyjny (z wyjątkiem szklanego), 38511100 Skanujące mikroskopy elektronowe
Miejsce wykonania:
Rasterkraftmikroskop (AFM)
Miejsce udzielenia zamówienia:
Universität Siegen
Numer nagrody:
02-NL25E1OV
Publikacja:
18 marca 2025 04:46
Sistema di telepatologia

Indizione Procedura aperta per la stipula di una “Convenzione triennale per la fornitura in locazione inclusive service di Sistemi di Telepatologia per le AA.SS. della Regione Toscana – CUI 2023-022-0006” Sistema per Telepatologia

CPV: 38511100 Skanujące mikroskopy elektronowe
Termin:
30 kwietnia 2025 16:00
Rodzaj terminu:
Złożenie oferty
Miejsce wykonania:
Sistema di telepatologia
Miejsce udzielenia zamówienia:
ESTAR - Ente di Supporto Tecnico Amministrativo Regionale
Numer nagrody:
1
Publikacja:
15 marca 2025 02:24