Uw zoekopdracht naar Ionenmicroscopen
Aantal gevonden signaleringen: 3

3D LIT-OBIRCH system (IMWS-2.1) +Scanning Electron Microscope with ultrafast e-beam operation (IMWS-3.1 ) - PR876527-2690-P

3D LIT-OBIRCH system (IMWS-2.1) +Scanning Electron Microscope with ultrafast e-beam operation (IMWS-3.1 ) 3D LIT-OBIRCH system (IMWS-2.1) +Scanning Electron Microscope with ultrafast e-beam operation (IMWS-3.1 ) Das Fraunhofer-Institut für Mikrostruktur von Werkstoffen und Systemen IMWS erforscht das Anwendungsverhalten, die Zuverlässigkeit, Sicherheit und Lebensdauer innovativer Materialien in Komponenten und Systemen. Der …

CPV: 38511100 Aftastingselektronenmicroscopen, 38512100 Ionenmicroscopen
Plaats van uitvoering:
3D LIT-OBIRCH system (IMWS-2.1) +Scanning Electron Microscope with ultrafast e-beam operation (IMWS-3.1 ) - PR876527-2690-P
Toekennende instantie:
Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12
Gunningsnummer:
PR876527-2690-P
Publicatie:
1 mei 2025 03:37
3D LIT-OBIRCH system (IMWS-2.1) +Scanning Electron Microscope with ultrafast e-beam operation (IMWS-3.1 ) - PR876527-2690-P

3D LIT-OBIRCH system (IMWS-2.1) +Scanning Electron Microscope with ultrafast e-beam operation (IMWS-3.1 ) 3D LIT-OBIRCH system (IMWS-2.1) +Scanning Electron Microscope with ultrafast e-beam operation (IMWS-3.1 ) Das Fraunhofer-Institut für Mikrostruktur von Werkstoffen und Systemen IMWS erforscht das Anwendungsverhalten, die Zuverlässigkeit, Sicherheit und Lebensdauer innovativer Materialien in Komponenten und Systemen. Der …

CPV: 38511100 Aftastingselektronenmicroscopen, 38512100 Ionenmicroscopen
Plaats van uitvoering:
3D LIT-OBIRCH system (IMWS-2.1) +Scanning Electron Microscope with ultrafast e-beam operation (IMWS-3.1 ) - PR876527-2690-P
Toekennende instantie:
Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12
Gunningsnummer:
PR876527-2690-P
Publicatie:
29 april 2025 05:59
UCDOPP5437 - UCD Wishes to Purchase a Micro Particle Imaging Velcoimetry Microscope

UCDOPP5437 - UCD Wishes to Purchase a Micro Particle Imaging Velcoimetry Microscope UCDOPP5437 - UCD Wishes to Purchase a Micro Particle Imaging Velcoimetry Microscope

CPV: 38513100 Inversiemicroscopen, 38511100 Aftastingselektronenmicroscopen, 38513200 Metallurgische microscopen, 38511200 Transmissie-elektronenmicroscoop, 38514100 Donkerveld-microscopen, 38515000 Fluorescerende en polarisatiemiscroscopen, 38514200 Rastersondemicroscopen (SPM), 38515100 Polarisatiemicroscopen, 38516000 Binoculaire lichtcompound-microscopen, 38517000 Akoestische en projectiemicroscopen, 38634000 Optische microscopen, 38519400 Standaards voor computergestuurde microscoop, 38512000 Ionen- en moleculaire microscopen, 38512100 Ionenmicroscopen, 38511000 Elektronenmicroscopen, 38512200 Monoculaire microscopen
Plaats van uitvoering:
UCDOPP5437 - UCD Wishes to Purchase a Micro Particle Imaging Velcoimetry Microscope
Toekennende instantie:
University College Dublin ( UCD )
Gunningsnummer:
0
Publicatie:
17 april 2025 07:00