Jūsu meklēšana pēc Elektronmikroskopi
Atrasto brīdinājumu skaits: 21

Procedura aperta, ex art. 71 del D. Lgs. n. 36/2023 e ss.mm.ii., avente ad oggetto la “Fornitura e resa operativa di strumenti scientifici”, suddivisa in 3 lotti funzionali, da aggiudicarsi con il criterio dell’offerta economicamente più vantaggiosa sulla base del miglior rapporto qualità/prezzo, nell’ambito del PNRR SEE LIFE, CUP B53C22001810006

Procedura aperta, ex art. 71 del D. Lgs. n. 36/2023 e ss.mm.ii., avente ad oggetto la “Fornitura e resa operativa di strumenti scientifici”, suddivisa in 3 lotti funzionali, da aggiudicarsi con il criterio dell’offerta economicamente più vantaggiosa sulla base del miglior rapporto qualità/prezzo, nell’ambito del PNRR SEE LIFE, CUP B53C22001810006 …

CPV: 33115000 Tomogrāfijas iekārtas, 38431000 Detektorierīces, 38511000 Elektronmikroskopi
Termiņš:
2025. gada 6. augusts, 18:00
Termiņa veids:
Piedāvājuma iesniegšana
Izpildes vieta:
Procedura aperta, ex art. 71 del D. Lgs. n. 36/2023 e ss.mm.ii., avente ad oggetto la “Fornitura e resa operativa di strumenti scientifici”, suddivisa in 3 lotti funzionali, da aggiudicarsi con il criterio dell’offerta economicamente più vantaggiosa sulla base del miglior rapporto qualità/prezzo, nell’ambito del PNRR SEE LIFE, CUP B53C22001810006
Piešķīrēja iestāde:
Istituto di Bioimmagini e Sistemi Biologici Complessi del Consiglio Nazionale delle Ricerche
Piešķīruma numurs:
Prot. n. 0222773 del 19/06/2025
Publikācija:
2025. gada 24. jūlijs, 07:44
Rasterelektronenmikroskop (SEM) für Baumaterialien

Das Institut für Baustoffe (IfB) schreibt die Anschaffung eines Rasterelektronenmikroskops (SEM) aus. Das System wird für eine breite Palette von Probenanalysen eingesetzt, die von Mitarbeitern, Doktoranden und Postdocs in der Forschung und Lehre durchgeführt werden. Zu den typischen Anwendungen gehören die Bildgebung mittels SEM und die EDS-Analyse. Details siehe Pflichtenheft. …

CPV: 38511000 Elektronmikroskopi
Izpildes vieta:
Rasterelektronenmikroskop (SEM) für Baumaterialien
Piešķīrēja iestāde:
ETH Zürich - Abt. Procurement & Export Services
Piešķīruma numurs:
Publikācija:
2025. gada 23. jūlijs, 06:43
RFP 240015 - ACQUISITION OF CRYOGENIC SCANNING ELECTRON MICROSCOPE SYSTEM (CRYO-SEM) AND ITS ASSOCIATED SERVICES OF COMMISSIONING, TRAINING AND MAINTENANCE

Acquisition of Cryogenic Scanning Electron Microscope (cryo-SEM) and its associated services of commissioning, training and maintenance. This Call for Tender is aimed at concluding a contract for supplies and services, for the unique lot, for a duration of 4 years. Acquisition of Cryogenic Scanning Electron Microscope (cryo-SEM) and its associated …

CPV: 38510000 Mikroskopi, 38511000 Elektronmikroskopi, 38511100 Skenējošie elektronmikroskopi
Izpildes vieta:
RFP 240015 - ACQUISITION OF CRYOGENIC SCANNING ELECTRON MICROSCOPE SYSTEM (CRYO-SEM) AND ITS ASSOCIATED SERVICES OF COMMISSIONING, TRAINING AND MAINTENANCE
Piešķīrēja iestāde:
Université du Luxembourg
Piešķīruma numurs:
2401979
Publikācija:
2025. gada 22. jūlijs, 08:10
Kauf Transmissionselektronenmikroskop (TEM) Biologie

Transmissionselektronenmikroskop mit bis zu 120 kV Beschleunigungsspannung mit Probenhaltern für Tomographie- und Kryo-Anwendungen. Transmissionselektronenmikroskop mit bis zu 120 kV Beschleunigungsspannung mit Probenhaltern für Tomographie- und Kryo-Anwendungen.

CPV: 38511000 Elektronmikroskopi
Termiņš:
2025. gada 19. augusts, 10:00
Termiņa veids:
Piedāvājuma iesniegšana
Izpildes vieta:
Kauf Transmissionselektronenmikroskop (TEM) Biologie
Piešķīrēja iestāde:
Karl-Franzens-Universität Graz
Piešķīruma numurs:
367_2025
Publikācija:
2025. gada 22. jūlijs, 08:05
Dostawa mikroskopów specjalistycznych w podziale na pakiety

Przedmiotem niniejszego zamówienia jest dostawa mikroskopów specjalistycznych w podziale na 3 części zamówienia, zwane w dokumentacji "Pakietami". Mikroskop odwrócony fluorescencyjny z wyposażeniem - 1 zestaw. Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia, z wyszczególnieniem co do rodzaju i liczby urządzeń, został określony w Formularzu wymaganych warunków technicznych, który stanowi Załączniki nr 2.1 do …

CPV: 38510000 Mikroskopi, 38511000 Elektronmikroskopi, 38519000 Dažādi mikroskopu piederumi
Termiņš:
2025. gada 31. jūlijs, 11:00
Termiņa veids:
Piedāvājuma iesniegšana
Izpildes vieta:
Dostawa mikroskopów specjalistycznych w podziale na pakiety
Piešķīrēja iestāde:
Warszawski Uniwersytet Medyczny
Piešķīruma numurs:
AEZ/S-100/2025
Publikācija:
2025. gada 22. jūlijs, 08:00
Προμήθεια σύγχρονου συστ. ηλεκτρονικής μικροσκοπίας υψηλής διακριτικής ικανότητας για τον Περιφερειακό Κόμβο Καινοτομίας Κρήτης στη Βιώσιμη Χρήση των Πόρων» στο πλαίσιο του Υποέργου1 της Πράξης: «Περιφερειακός Κόμβος Καινοτομίας Κρήτης στη Βιώσιμη Χρήση των Πόρων–Κέντρο Ηλεκτρονικής Μικροσκοπίας Υψηλής Διακριτικής Ικανότητας (SURE@Crete)»,η οποία έχει ενταχθεί στο Ε.Π.Κρήτη 2021-2027 (ΟΠΣ 6010732)

Προμήθεια σύγχρονου συστήματος ηλεκτρονικής μικροσκοπίας στο πλαίσιο του Υποέργου Νο 1 με τίτλο «Προμήθεια σύγχρονου συστήματος ηλεκτρονικής μικροσκοπίας υψηλής διακριτικής ικανότητας για τον Περιφερειακό Κόμβο Καινοτομίας Κρήτης στη Βιώσιμη Χρήση των Πόρων» της Πράξης: «Περιφερειακός Κόμβος Καινοτομίας Κρήτης στη Βιώσιμη Χρήση των Πόρων – Κέντρο Ηλεκτρονικής Μικροσκοπίας Υψηλής Διακριτικής Ικανότητας …

CPV: 38511000 Elektronmikroskopi
Termiņš:
2025. gada 8. septembris, 15:00
Termiņa veids:
Piedāvājuma iesniegšana
Izpildes vieta:
Προμήθεια σύγχρονου συστ. ηλεκτρονικής μικροσκοπίας υψηλής διακριτικής ικανότητας για τον Περιφερειακό Κόμβο Καινοτομίας Κρήτης στη Βιώσιμη Χρήση των Πόρων» στο πλαίσιο του Υποέργου1 της Πράξης: «Περιφερειακός Κόμβος Καινοτομίας Κρήτης στη Βιώσιμη Χρήση των Πόρων–Κέντρο Ηλεκτρονικής Μικροσκοπίας Υψηλής Διακριτικής Ικανότητας (SURE@Crete)»,η οποία έχει ενταχθεί στο Ε.Π.Κρήτη 2021-2027 (ΟΠΣ 6010732)
Piešķīrēja iestāde:
ΠΟΛΥΤΕΧΝΕΙΟ ΚΡΗΤΗΣ (Ν.Π.Δ.Δ.)
Piešķīruma numurs:
Διακήρυξη 3989/14.07.2025 (Αίτηση 298/2025)
Publikācija:
2025. gada 16. jūlijs, 08:17
Multifoton aangepaste microscoop

Multifoton aangepaste microscoop 1 levering en installatie microscoop 1

CPV: 38511000 Elektronmikroskopi
Izpildes vieta:
Multifoton aangepaste microscoop
Piešķīrēja iestāde:
Koninklijke Nederlandse Akademie van Wetenschappen
Piešķīruma numurs:
1
Publikācija:
2025. gada 15. jūlijs, 10:14
Sondy ke skenovacímu elektronovému mikroskopu

Účelem tohoto zadávacího řízení je uzavření kupní smlouvy, jejímž předmětem bude dodávka detektorů ke skenovacímu elektronovému mikroskopu, který je nezbytný pro modernizaci specializovaného digitalizačního vědeckého pracoviště Paleontologického oddělení Národního muzea zaměřeného na digitalizaci mikrostruktur. Vědecky využitelná digitalizace mikrostruktur pomocí elektronového mikroskopu vyžaduje nejen data o topografii mikropovrchů (elektronový mikroskop), ale …

CPV: 38511000 Elektronmikroskopi
Termiņš:
2025. gada 11. augusts, 12:00
Termiņa veids:
Piedāvājuma iesniegšana
Izpildes vieta:
Sondy ke skenovacímu elektronovému mikroskopu
Piešķīrēja iestāde:
Národní muzeum
Piešķīruma numurs:
VZ250121
Publikācija:
2025. gada 12. jūlijs, 10:20
Elektronen-Energiefilter und ein Kamerasystem für ein Cs-korrigiertes (S)TEM - JEOL JEM-ARM200F – NEOARM

Elektronen-Energiefilter und ein Kamerasystem für ein Cs-korrigiertes (S)TEM - JEOL JEM-ARM200F – NEOARM Elektronen-Energiefilter und ein Kamerasystem für ein Cs-korrigiertes (S)TEM - JEOL JEM-ARM200F – NEOARM

CPV: 38511000 Elektronmikroskopi
Termiņš:
2025. gada 8. augusts, 10:00
Termiņa veids:
Piedāvājuma iesniegšana
Izpildes vieta:
Elektronen-Energiefilter und ein Kamerasystem für ein Cs-korrigiertes (S)TEM - JEOL JEM-ARM200F – NEOARM
Piešķīrēja iestāde:
Technische Universität Wien
Piešķīruma numurs:
26300.02/042/2025
Publikācija:
2025. gada 5. jūlijs, 12:41
Beschaffung einer Kryo-Plasma-Fokussiertes Ionenstrahl- Rasterelektronenmikroskop (Kryo-pFIB-SEM)

Beschaffung einer Kryo-Plasma-Fokussiertes Ionenstrahl- Rasterelektronenmikroskop (Kryo-pFIB-SEM), d.h. ein komplett neues vollautomatisiertes Plasma-Focused-Ion-Beam Rasterelektronenmikroskop. Beschaffung einer Kryo-Plasma-Fokussiertes Ionenstrahl- Rasterelektronenmikroskop (Kryo-pFIB-SEM), d.h. ein komplett neues vollautomatisiertes Plasma-Focused-Ion-Beam Rasterelektronenmikroskop.

CPV: 38511000 Elektronmikroskopi
Izpildes vieta:
Beschaffung einer Kryo-Plasma-Fokussiertes Ionenstrahl- Rasterelektronenmikroskop (Kryo-pFIB-SEM)
Piešķīrēja iestāde:
Der Kanzler der Johann Wolfgang Goethe-Universität, Bereich Finanzen und Controlling, Einkaufsmanagement
Piešķīruma numurs:
9_41_16_VgV_EM21A_BMLS_01_25
Publikācija:
2025. gada 4. jūlijs, 02:49