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Skenovací elektronový mikroskop

Předmětem veřejné zakázky je dodávka skenovacího elektronového mikroskopu s příslušenstvím. Předmětem veřejné zakázky je dodávka skenovacího elektronového mikroskopu s příslušenstvím.

CPV: 38511000 Microscopi elettronici, 38511100 Microscopi elettronici a scansione
Luogo di esecuzione:
Skenovací elektronový mikroskop
Ente di assegnazione:
Ústav makromolekulární chemie AV ČR, v. v. i.
Numero di premio:
VZ
Pubblicazione:
Mercoledì 14 Maggio 2025 16:30
Strukturierungs- und Beobachtungssystem auf Basis einer Plasma-Ionensäule und einer Elektronensäule zur Beobachtung, sowie kontaminationsarmen Präparation großer Probenbereiche mit hohen Abtragsraten

Lieferung, Aufbau und Inbetriebnahme einer flexibel einsetzbaren modernen Plasma-FIB (PFIB), wel-che die Möglichkeit der kontaminationsarmen Präparation von Strukturen über größere Probenbe-reiche mit hoher Abtragsrate besitzt. Diese hohen Abtragsraten sind für die effiziente Herstellung und Charakterisierung von verschiedenen z.T. integrierten Strukturen in unterschiedlichen Größens-kalen von Bedeutung. Mit der geplanten Anlage sollen …

CPV: 38511100 Microscopi elettronici a scansione, 38512000 Microscopi ionici e monoculari
Luogo di esecuzione:
Strukturierungs- und Beobachtungssystem auf Basis einer Plasma-Ionensäule und einer Elektronensäule zur Beobachtung, sowie kontaminationsarmen Präparation großer Probenbereiche mit hohen Abtragsraten
Ente di assegnazione:
Technische Universität Ilmenau, Dezernat Finanzen, Zentrale Vergabestelle
Numero di premio:
TU-025/25-201-ZMN
Pubblicazione:
Martedì 13 Maggio 2025 01:07
Un microscope électronique à balayage en série

L'EPFL a l'intention d'acquérir un microscope électronique à balayage en série conçu pour l'imagerie à haute résolution de coupes minces en série et la microscopie électronique à balayage en série (SBF-SEM). Le système doit inclure un ultramicrotome facilement démontable pour l'automatisation des coupes et de l'imagerie en série. Ce microscope …

CPV: 38511100 Microscopi elettronici a scansione
Scadenza:
Lunedì 16 Giugno 2025 23:59
Tipo di scadenza:
Presentazione di un'offerta
Luogo di esecuzione:
Un microscope électronique à balayage en série
Ente di assegnazione:
EPFL-Scientific Equipment
Numero di premio:
Pubblicazione:
Giovedì 08 Maggio 2025 05:34
FOURNITURE D’UN MICROSCOPE ELECTRONIQUE A BALAYAGE

Microscope électronique à balayage (MEB) compatible avec le domaine de la microélectronique et à installer dans un environnement de salle blanche ISO6 Microscope électronique à balayage (MEB) compatible avec le domaine de la microélectronique et à installer dans un environnement de salle blanche ISO6

CPV: 38511100 Microscopi elettronici a scansione
Scadenza:
Venerdì 27 Giugno 2025 16:00
Tipo di scadenza:
Presentazione di un'offerta
Luogo di esecuzione:
FOURNITURE D’UN MICROSCOPE ELECTRONIQUE A BALAYAGE
Ente di assegnazione:
Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives
Numero di premio:
B25-01068
Pubblicazione:
Mercoledì 30 Aprile 2025 05:05