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Numero di offerte trovate: 16

Zeiss GeminiSEM 460 with Volutome

Electron Microscopy Unit (EMBI) is acquiring an automated serial block face scanning electron microscope (SBF-SEM) suitable especially for large volumes and broad variety of specimen types. The new system will replace the aged system, which has been the most used instrument of the unit, used in numerous high-profile projects and …

CPV: 38511100 Microscopi elettronici a scansione
Luogo di esecuzione:
Zeiss GeminiSEM 460 with Volutome
Ente di assegnazione:
University of Helsinki
Numero di premio:
529956
Pubblicazione:
Venerdì 28 Marzo 2025 03:01
FORNITURA DI UN MICROSCOPIO ELETTRONICO

GARA EUROPEA A PROCEDURA APERTA PER LA FORNITURA DI UN MICROSCOPIO ELETTRONICO FORNITURA DI UN MICROSCOPIO ELETTRONICO A SCANSIONE A EMISSIONE DI CAMPO (FESEM) AD ULTRA-ALTA RISOLUZIONE PER ANALISI IN ALTO VUOTO E PRESSIONE VARIABILE

CPV: 38511100 Microscopi elettronici a scansione
Luogo di esecuzione:
FORNITURA DI UN MICROSCOPIO ELETTRONICO
Ente di assegnazione:
Università degli Studi di Roma Tor Vergata
Numero di premio:
1
Pubblicazione:
Giovedì 27 Marzo 2025 03:36
Aquisição de 1 (um) Microscópio Eletrónico de Varrimento, para o Laboratório Associado CICECO – Instituto de Materiais de Aveiro da Universidade de Aveiro

Aquisição de 1 (um) Microscópio Eletrónico de Varrimento, para o Laboratório Associado CICECO – Instituto de Materiais de Aveiro da Universidade de Aveiro Aquisição de 1 (um) Microscópio Eletrónico de Varrimento, para o Laboratório Associado CICECO – Instituto de Materiais de Aveiro da Universidade de Aveiro

CPV: 38511100 Microscopi elettronici a scansione
Luogo di esecuzione:
Aquisição de 1 (um) Microscópio Eletrónico de Varrimento, para o Laboratório Associado CICECO – Instituto de Materiais de Aveiro da Universidade de Aveiro
Ente di assegnazione:
Universidade de Aveiro
Numero di premio:
1
Pubblicazione:
Giovedì 27 Marzo 2025 02:51
Skaneeriv elektronmikroskoop

Energiadispersiivse röntgen-mikroanalüsaatoriga varustatud skaneeriv elektronmikroskoop Energiadispersiivse röntgen-mikroanalüsaatoriga varustatud skaneeriv elektronmikroskoop

CPV: 38511100 Microscopi elettronici a scansione
Luogo di esecuzione:
Skaneeriv elektronmikroskoop
Ente di assegnazione:
Tallinna Tehnikaülikool
Numero di premio:
290090
Pubblicazione:
Sabato 22 Marzo 2025 01:27
Rasterkraftmikroskop (AFM)

Rasterkraftmikroskop (AFM) Beschafft wird ein Rasterkraftmikroskop (AFM; engl. Atomic Force Microscope) mit einem Scanbereich in x- und y-Richtung von mind. 90µm für die Charakterisierung von Topologien im speziellen im Kontext von elektrischen Halbleiterbauteilen. Das Gerät ist als integraler Bestandteil des halbleitertechnologischen Reinraums des Forschungsgebäudes INCYTE der Naturwissenschaftlich-Technischen Fakultät der Universität …

CPV: 38000000 Attrezzature da laboratorio, ottiche e di precisione (escluso vetri), 38511100 Microscopi elettronici a scansione
Luogo di esecuzione:
Rasterkraftmikroskop (AFM)
Ente di assegnazione:
Universität Siegen
Numero di premio:
02-NL25E1OV
Pubblicazione:
Martedì 18 Marzo 2025 04:46
Sistema di telepatologia

Indizione Procedura aperta per la stipula di una “Convenzione triennale per la fornitura in locazione inclusive service di Sistemi di Telepatologia per le AA.SS. della Regione Toscana – CUI 2023-022-0006” Sistema per Telepatologia

CPV: 38511100 Microscopi elettronici a scansione
Scadenza:
Mercoledì 30 Aprile 2025 16:00
Tipo di scadenza:
Presentazione di un'offerta
Luogo di esecuzione:
Sistema di telepatologia
Ente di assegnazione:
ESTAR - Ente di Supporto Tecnico Amministrativo Regionale
Numero di premio:
1
Pubblicazione:
Sabato 15 Marzo 2025 02:24