Interferometriska atomspēku mikroskopa (AFM) piegāde Interferometriska atomspēku mikroskopa (AFM) piegāde
Interferometriska atomspēku mikroskopa (AFM) piegāde Interferometriska atomspēku mikroskopa (AFM) piegāde
Przedmiotem zamówienia jest dostawa kontrolera oraz głowicy AFM do posiadanego przez zamawiającego mikroskopu sił atomowych (AFM) Nanowizard IV zintegrowanego z odwróconym mikroskopem optycznym i fluorescencyjnym dla IFJ PAN w Krakowie. Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia określa załącznik nr: 1 do SWZ. Przedmiotem zamówienia jest dostawa kontrolera oraz głowicy AFM do posiadanego …
Vergabeverfahren zur Lieferung eines räumlichen Rasterkraftmikroskop-Moduls Beschafft werden soll das Bruker CellHesion 300 automated cell adhesion and mechanical characterization platform with similar single-cell force spectroscopy (SCFS) system (White Light Laser mit NIR-Erweiterung, Resonanzscanner, Inkubationskammer) für räumliche Rasterkraftmikroskopie (sAFM). Die beantragte Vergabe erfolgt im Rahmen des durch das BMBF geförderten Verbundprojekts …