Vaša pretraga za Pretraživački elektronski mikroskopi
Broj pronađenih ponuda: 15

FORNITURA DI UN MICROSCOPIO ELETTRONICO

GARA EUROPEA A PROCEDURA APERTA PER LA FORNITURA DI UN MICROSCOPIO ELETTRONICO FORNITURA DI UN MICROSCOPIO ELETTRONICO A SCANSIONE A EMISSIONE DI CAMPO (FESEM) AD ULTRA-ALTA RISOLUZIONE PER ANALISI IN ALTO VUOTO E PRESSIONE VARIABILE

CPV: 38511100 Pretraživački elektronski mikroskopi
mjesto izvršenja:
FORNITURA DI UN MICROSCOPIO ELETTRONICO
registar:
Università degli Studi di Roma Tor Vergata
nagradni broj:
1
objavljivanje:
27. ožujka 2025. 03:36
Aquisição de 1 (um) Microscópio Eletrónico de Varrimento, para o Laboratório Associado CICECO – Instituto de Materiais de Aveiro da Universidade de Aveiro

Aquisição de 1 (um) Microscópio Eletrónico de Varrimento, para o Laboratório Associado CICECO – Instituto de Materiais de Aveiro da Universidade de Aveiro Aquisição de 1 (um) Microscópio Eletrónico de Varrimento, para o Laboratório Associado CICECO – Instituto de Materiais de Aveiro da Universidade de Aveiro

CPV: 38511100 Pretraživački elektronski mikroskopi
mjesto izvršenja:
Aquisição de 1 (um) Microscópio Eletrónico de Varrimento, para o Laboratório Associado CICECO – Instituto de Materiais de Aveiro da Universidade de Aveiro
registar:
Universidade de Aveiro
nagradni broj:
1
objavljivanje:
27. ožujka 2025. 02:51
Skaneeriv elektronmikroskoop

Energiadispersiivse röntgen-mikroanalüsaatoriga varustatud skaneeriv elektronmikroskoop Energiadispersiivse röntgen-mikroanalüsaatoriga varustatud skaneeriv elektronmikroskoop

CPV: 38511100 Pretraživački elektronski mikroskopi
mjesto izvršenja:
Skaneeriv elektronmikroskoop
registar:
Tallinna Tehnikaülikool
nagradni broj:
290090
objavljivanje:
22. ožujka 2025. 01:27
Rasterkraftmikroskop (AFM)

Rasterkraftmikroskop (AFM) Beschafft wird ein Rasterkraftmikroskop (AFM; engl. Atomic Force Microscope) mit einem Scanbereich in x- und y-Richtung von mind. 90µm für die Charakterisierung von Topologien im speziellen im Kontext von elektrischen Halbleiterbauteilen. Das Gerät ist als integraler Bestandteil des halbleitertechnologischen Reinraums des Forschungsgebäudes INCYTE der Naturwissenschaftlich-Technischen Fakultät der Universität …

CPV: 38000000 Laboratorijska, optička i precizna oprema (osim naočala), 38511100 Pretraživački elektronski mikroskopi
mjesto izvršenja:
Rasterkraftmikroskop (AFM)
registar:
Universität Siegen
nagradni broj:
02-NL25E1OV
objavljivanje:
18. ožujka 2025. 04:46
Sistema di telepatologia

Indizione Procedura aperta per la stipula di una “Convenzione triennale per la fornitura in locazione inclusive service di Sistemi di Telepatologia per le AA.SS. della Regione Toscana – CUI 2023-022-0006” Sistema per Telepatologia

CPV: 38511100 Pretraživački elektronski mikroskopi
rok:
30. travnja 2025. 16:00
vrsta roka:
nadmetanje
mjesto izvršenja:
Sistema di telepatologia
registar:
ESTAR - Ente di Supporto Tecnico Amministrativo Regionale
nagradni broj:
1
objavljivanje:
15. ožujka 2025. 02:24