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Un microscope électronique à balayage en série

L'EPFL a l'intention d'acquérir un microscope électronique à balayage en série conçu pour l'imagerie à haute résolution de coupes minces en série et la microscopie électronique à balayage en série (SBF-SEM). Le système doit inclure un ultramicrotome facilement démontable pour l'automatisation des coupes et de l'imagerie en série. Ce microscope …

CPV: 38511100 Pretraživački elektronski mikroskopi
rok:
16. lipnja 2025. 23:59
vrsta roka:
nadmetanje
mjesto izvršenja:
Un microscope électronique à balayage en série
registar:
EPFL-Scientific Equipment
nagradni broj:
objavljivanje:
8. svibnja 2025. 05:34
FOURNITURE D’UN MICROSCOPE ELECTRONIQUE A BALAYAGE

Microscope électronique à balayage (MEB) compatible avec le domaine de la microélectronique et à installer dans un environnement de salle blanche ISO6 Microscope électronique à balayage (MEB) compatible avec le domaine de la microélectronique et à installer dans un environnement de salle blanche ISO6

CPV: 38511100 Pretraživački elektronski mikroskopi
rok:
27. lipnja 2025. 16:00
vrsta roka:
nadmetanje
mjesto izvršenja:
FOURNITURE D’UN MICROSCOPE ELECTRONIQUE A BALAYAGE
registar:
Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives
nagradni broj:
B25-01068
objavljivanje:
30. travnja 2025. 05:05
Raith Electron-Beam Lithography Hardware and Software upgrade

This voluntary ex-ante transparency VEAT notice acknowledges that Trinity College Dublin intends to award a contract to EM Systems Support Ltd., Media House, London Road, Adlington, Cheshire, SK10 4NL, United Kingdom. The contract is for the refurbishment and upgrade of the Raith Laser Interferometer Stage (LIS) located in CRANN, Naughton …

CPV: 38511100 Pretraživački elektronski mikroskopi
mjesto izvršenja:
Raith Electron-Beam Lithography Hardware and Software upgrade
registar:
Trinity College Dublin the University of Dublin_336
nagradni broj:
TCD-25-C1978
objavljivanje:
30. travnja 2025. 04:45
Avviso di indagine di mercato per verifica unicità fornitore ex art. 76 c. 2 lett. b) del D.Lgs. n. 36/2023 - fornitura di un microscopio elettronico a scansione SEM

Avviso di indagine di mercato per verifica unicità fornitore ex art. 76 c. 2 lett. b) del D.Lgs. n. 36/2023 - fornitura di un microscopio elettronico a scansione SEM Avviso di indagine di mercato per verifica unicità fornitore ex art. 76 c. 2 lett. b) del D.Lgs. n. 36/2023 - …

CPV: 38511100 Pretraživački elektronski mikroskopi
mjesto izvršenja:
Avviso di indagine di mercato per verifica unicità fornitore ex art. 76 c. 2 lett. b) del D.Lgs. n. 36/2023 - fornitura di un microscopio elettronico a scansione SEM
registar:
UNIVERSITA' DEGLI STUDI DI MILANO - BICOCCA - Area Infrastrutture e Approvvigionamenti
nagradni broj:
objavljivanje:
30. travnja 2025. 04:41