Stranica 1 od 1
Systém skenovacej elektrónovej mikroskopie (SEM) vybavený FIB, 3D-EBSD, 3D-EDS detektormi a Spektrometrom na súčasné meranie spektier pre rôzne energie, za účelom analýzy ľahkých kovových prvkov vrátane lítia (Li)
Predmetom zákazky je dodávka, inštalácia a zaškolenie pre prácu, vrátane aplikačného školenia, na zostave skenovacej elektrónovej mikroskopie pozostávajúcej z FIB-SEM mikroskopu s iónovým zväzkom, vybaveným analytickými metódami EDS, EBSD a spektrometrom na súčasné meranie spektier pre rôzne energie. Zariadenie je obstarávané v rámci projektu s názvom „Vývoj a dizajn udržateľných …
CPV: 38511100 Pretraživački elektronski mikroskopi, 38512100 Ionski mikroskopi
Stranica 1 od 1