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FORNITURA DI UN MICROSCOPIO ELETTRONICO

GARA EUROPEA A PROCEDURA APERTA PER LA FORNITURA DI UN MICROSCOPIO ELETTRONICO FORNITURA DI UN MICROSCOPIO ELETTRONICO A SCANSIONE A EMISSIONE DI CAMPO (FESEM) AD ULTRA-ALTA RISOLUZIONE PER ANALISI IN ALTO VUOTO E PRESSIONE VARIABILE

CPV: 38511100 Scanning electron microscopes
áit fhorghníomhaithe:
FORNITURA DI UN MICROSCOPIO ELETTRONICO
clárlann:
Università degli Studi di Roma Tor Vergata
uimhir dámhachtana:
1
foilsiú:
Márta 27, 2025, 3:36 r.n.
Aquisição de 1 (um) Microscópio Eletrónico de Varrimento, para o Laboratório Associado CICECO – Instituto de Materiais de Aveiro da Universidade de Aveiro

Aquisição de 1 (um) Microscópio Eletrónico de Varrimento, para o Laboratório Associado CICECO – Instituto de Materiais de Aveiro da Universidade de Aveiro Aquisição de 1 (um) Microscópio Eletrónico de Varrimento, para o Laboratório Associado CICECO – Instituto de Materiais de Aveiro da Universidade de Aveiro

CPV: 38511100 Scanning electron microscopes
áit fhorghníomhaithe:
Aquisição de 1 (um) Microscópio Eletrónico de Varrimento, para o Laboratório Associado CICECO – Instituto de Materiais de Aveiro da Universidade de Aveiro
clárlann:
Universidade de Aveiro
uimhir dámhachtana:
1
foilsiú:
Márta 27, 2025, 2:51 r.n.
Skaneeriv elektronmikroskoop

Energiadispersiivse röntgen-mikroanalüsaatoriga varustatud skaneeriv elektronmikroskoop Energiadispersiivse röntgen-mikroanalüsaatoriga varustatud skaneeriv elektronmikroskoop

CPV: 38511100 Scanning electron microscopes
áit fhorghníomhaithe:
Skaneeriv elektronmikroskoop
clárlann:
Tallinna Tehnikaülikool
uimhir dámhachtana:
290090
foilsiú:
Márta 22, 2025, 1:27 r.n.
Rasterkraftmikroskop (AFM)

Rasterkraftmikroskop (AFM) Beschafft wird ein Rasterkraftmikroskop (AFM; engl. Atomic Force Microscope) mit einem Scanbereich in x- und y-Richtung von mind. 90µm für die Charakterisierung von Topologien im speziellen im Kontext von elektrischen Halbleiterbauteilen. Das Gerät ist als integraler Bestandteil des halbleitertechnologischen Reinraums des Forschungsgebäudes INCYTE der Naturwissenschaftlich-Technischen Fakultät der Universität …

CPV: 38000000 Laboratory, optical and precision equipments (excl. glasses), 38511100 Scanning electron microscopes
áit fhorghníomhaithe:
Rasterkraftmikroskop (AFM)
clárlann:
Universität Siegen
uimhir dámhachtana:
02-NL25E1OV
foilsiú:
Márta 18, 2025, 4:46 r.n.
Sistema di telepatologia

Indizione Procedura aperta per la stipula di una “Convenzione triennale per la fornitura in locazione inclusive service di Sistemi di Telepatologia per le AA.SS. della Regione Toscana – CUI 2023-022-0006” Sistema per Telepatologia

CPV: 38511100 Scanning electron microscopes
spriocdháta:
Aib. 30, 2025, 4 i.n.
cineál spriocdháta:
tairisceana
áit fhorghníomhaithe:
Sistema di telepatologia
clárlann:
ESTAR - Ente di Supporto Tecnico Amministrativo Regionale
uimhir dámhachtana:
1
foilsiú:
Márta 15, 2025, 2:24 r.n.