Votre recherche par Microscopes électroniques à balayage
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Zeiss GeminiSEM 460 with Volutome

Electron Microscopy Unit (EMBI) is acquiring an automated serial block face scanning electron microscope (SBF-SEM) suitable especially for large volumes and broad variety of specimen types. The new system will replace the aged system, which has been the most used instrument of the unit, used in numerous high-profile projects and …

CPV: 38511100 Microscopes électroniques à balayage
Lieu d'exécution:
Zeiss GeminiSEM 460 with Volutome
Service d'adjudication:
University of Helsinki
Numéro d'adjudication:
529956
Publication:
28 mars 2025 03:01
FORNITURA DI UN MICROSCOPIO ELETTRONICO

GARA EUROPEA A PROCEDURA APERTA PER LA FORNITURA DI UN MICROSCOPIO ELETTRONICO FORNITURA DI UN MICROSCOPIO ELETTRONICO A SCANSIONE A EMISSIONE DI CAMPO (FESEM) AD ULTRA-ALTA RISOLUZIONE PER ANALISI IN ALTO VUOTO E PRESSIONE VARIABILE

CPV: 38511100 Microscopes électroniques à balayage
Lieu d'exécution:
FORNITURA DI UN MICROSCOPIO ELETTRONICO
Service d'adjudication:
Università degli Studi di Roma Tor Vergata
Numéro d'adjudication:
1
Publication:
27 mars 2025 03:36
Aquisição de 1 (um) Microscópio Eletrónico de Varrimento, para o Laboratório Associado CICECO – Instituto de Materiais de Aveiro da Universidade de Aveiro

Aquisição de 1 (um) Microscópio Eletrónico de Varrimento, para o Laboratório Associado CICECO – Instituto de Materiais de Aveiro da Universidade de Aveiro Aquisição de 1 (um) Microscópio Eletrónico de Varrimento, para o Laboratório Associado CICECO – Instituto de Materiais de Aveiro da Universidade de Aveiro

CPV: 38511100 Microscopes électroniques à balayage
Lieu d'exécution:
Aquisição de 1 (um) Microscópio Eletrónico de Varrimento, para o Laboratório Associado CICECO – Instituto de Materiais de Aveiro da Universidade de Aveiro
Service d'adjudication:
Universidade de Aveiro
Numéro d'adjudication:
1
Publication:
27 mars 2025 02:51
Skaneeriv elektronmikroskoop

Energiadispersiivse röntgen-mikroanalüsaatoriga varustatud skaneeriv elektronmikroskoop Energiadispersiivse röntgen-mikroanalüsaatoriga varustatud skaneeriv elektronmikroskoop

CPV: 38511100 Microscopes électroniques à balayage
Lieu d'exécution:
Skaneeriv elektronmikroskoop
Service d'adjudication:
Tallinna Tehnikaülikool
Numéro d'adjudication:
290090
Publication:
22 mars 2025 01:27
Rasterkraftmikroskop (AFM)

Rasterkraftmikroskop (AFM) Beschafft wird ein Rasterkraftmikroskop (AFM; engl. Atomic Force Microscope) mit einem Scanbereich in x- und y-Richtung von mind. 90µm für die Charakterisierung von Topologien im speziellen im Kontext von elektrischen Halbleiterbauteilen. Das Gerät ist als integraler Bestandteil des halbleitertechnologischen Reinraums des Forschungsgebäudes INCYTE der Naturwissenschaftlich-Technischen Fakultät der Universität …

CPV: 38000000 Équipements de laboratoire, d'optique et de précision (excepté les lunettes), 38511100 Microscopes électroniques à balayage
Lieu d'exécution:
Rasterkraftmikroskop (AFM)
Service d'adjudication:
Universität Siegen
Numéro d'adjudication:
02-NL25E1OV
Publication:
18 mars 2025 04:46
Sistema di telepatologia

Indizione Procedura aperta per la stipula di una “Convenzione triennale per la fornitura in locazione inclusive service di Sistemi di Telepatologia per le AA.SS. della Regione Toscana – CUI 2023-022-0006” Sistema per Telepatologia

CPV: 38511100 Microscopes électroniques à balayage
Délai:
30 avril 2025 16:00
Type de délai:
Soumission d'offres
Lieu d'exécution:
Sistema di telepatologia
Service d'adjudication:
ESTAR - Ente di Supporto Tecnico Amministrativo Regionale
Numéro d'adjudication:
1
Publication:
15 mars 2025 02:24