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Ultrafast Time-resolved Scanning Electron Microscopy Spectroscopic Platform

Das ISTA beabsichtigt den Kauf eines ultraschnellen Rasterelektronenmikroskop (REM) für zeitaufgelöste Spektroskopie im Nanobereich. Aufgrund der Komplexität des Systems ist ein All-in-One-Design erforderlich. Nähere Infos im Anhang ersichtlich. Lieferung eines Elektronen Mikroskops - SEM Spectrographic Platform

CPV: 38511000 Microscopes électroniques
Lieu d'exécution:
Ultrafast Time-resolved Scanning Electron Microscopy Spectroscopic Platform
Service d'adjudication:
Institute of Science and Technology Austria
Numéro d'adjudication:
2025101
Publication:
13 août 2025 05:45
Achiziția de dotări laboratoare, prevăzute în contractul de finanțare „Dotarea cu mobilier, materiale didactice și echipamente digitale a unităților de învățământ preuniversitar din Sectorul 2” LOT1 - LOT 7

Contractul este unul de furnizare de produse având ca scop dotarea laboratoarelor din cadrul unităţilor de învăţământ preuniversitare din Sectorul 2. Valoarea estimată totală este de 2.368.220, 98 lei fără T.V.A., procedura fiind împărțită în 7 loturi, după cum urmează: Nr. Lot Denumire lot Valoare estimată fără TVA 1 Truse …

CPV: 39162100 Matériel pédagogique, 33793000 Verrerie de laboratoire, 38000000 Équipements de laboratoire, d'optique et de précision (excepté les lunettes), 38500000 Appareils de contrôle et d'essai, 38511000 Microscopes électroniques, 38570000 Instruments et appareils de réglage et de contrôle
Lieu d'exécution:
Achiziția de dotări laboratoare, prevăzute în contractul de finanțare „Dotarea cu mobilier, materiale didactice și echipamente digitale a unităților de învățământ preuniversitar din Sectorul 2” LOT1 - LOT 7
Service d'adjudication:
Sectorul 2 al Municipiului Bucuresti
Numéro d'adjudication:
8
Publication:
9 août 2025 01:18
Scanning Electron Microscope

Instrument to be purchased is a Scanning Electron Microscope (SEM) for 200 mm standard wafer compatibility. An automated measurement over entire wafer is required. Also, EDS detector and 3D metrology are required. The instrument shall include standard back scattered electrons and secondary electrons detectors as well as cathodoluminescence detector. The …

CPV: 38511000 Microscopes électroniques
Lieu d'exécution:
Scanning Electron Microscope
Service d'adjudication:
Itä-Suomen yliopisto
Numéro d'adjudication:
402/02.07.02/2025
Publication:
7 août 2025 07:25
Acquisition, livraison, et mise en service d’un micromanipulateur de particules micrométriques pour le compte de UMR7590 - Institut de Minéralogie, de Physique des Matériaux et de Cosmochimie (IMPMC)

Le projet C3E (Conservation et Exploitation de la collection Concordia) rassemble différentes équipes de recherche d’Ile de France (IMPMC, IJCLab, IPGP) autour d’un programme de conservation et d’analyse de poussières interplanétaires, en particulier la Collection de micrométéorites CONCORDIA. Ce programme a pour but d’équiper l’IMPMC d’instruments pour analyser les particules …

CPV: 31712100 Machines et appareils microélectroniques, 38511000 Microscopes électroniques
Lieu d'exécution:
Acquisition, livraison, et mise en service d’un micromanipulateur de particules micrométriques pour le compte de UMR7590 - Institut de Minéralogie, de Physique des Matériaux et de Cosmochimie (IMPMC)
Service d'adjudication:
CNRS DELEGATION PARIS-CENTRE
Numéro d'adjudication:
2025_AOO_Micromanipulateur_UMR7590
Publication:
5 août 2025 08:53