Lotes 4 e 10 Micromanómetro; Medidor Laser

Lote 7 Vara teste detetores

Lotes 3 e 5 Caudalímetro; Ferramentas

Predmet ovog nadmetanja je nabava robe te montaža iste, a sve u skladu s tehničkim specifikacijama, nacrtima i troškovnikom, u kojima su naznačeni naziv, količina te ostali uvjeti potrebni za kompletiranje ponude. Predmet nabave nije podijeljen na grupe te se procijenjena vrijednost nabave odnosi na cjelokupan predmet nabave i s …

Das HelmholtzZentrum Berlin für Materialien und Energie GmbH (HZB) benötigt eine integrierte Roboter-Glovebox-Plattform für die automatisierte Fertigung und Prüfung. Das System soll den gesamten Arbeitsablauf abdecken – von der Substratvorbereitung über Spin Coating, Tempern, Lösungsmittel oder Vakuumabschrecken bis hin zu optischen/elektrischen Tests – und dabei die Reinheit und Sicherheit der …

PROCEDURA APERTA PER LA FORNITURA DI UNA MACCHINA PER TEST MECCANICI STATICI IN TEMPERATURA PROGETTO SEIC. CUP: E19D22000320001 PROCEDURA APERTA PER LA FORNITURA DI UNA MACCHINA PER TEST MECCANICI STATICI IN TEMPERATURA PROGETTO SEIC. CUP: E19D22000320001

Auftragsgegenstand ist die Lieferung einer modularen Verdüsungsanlage. Auftragsgegenstand ist die Lieferung einer modularen Verdüsungsanlage.

Przedmiotem zamówienia jest dostawa, instalacja, uruchomienie, kalibracja i testowanie urządzenia do naświetlania wraz z dokumentacją i szkoleniem. Przedmiotem zamówienia jest dostawa, instalacja, uruchomienie, kalibracja i testowanie urządzenia do naświetlania wraz z dokumentacją i szkoleniem.

Contractele ce se doresc a fi atribuite în baza prezentei proceduri vor viza achiziția de Utilaje și echipamente pentru Universitatea de Vest din Timișoara, în conformitate cu specificatiile identificate în Caietele de sarcini, pe fiecare lot în parte, achiziţie finanţată din Planul Naţional de Redresare şi Rezilienţă (PNRR). În cadrul …

Optisches Topografie Messsystem (Weißlichtinterferometer) 1 Stück Das zu beschaffende optische Topografie Messsystem soll für verschiedene Messaufgaben im Herstellungsprozess von MOEMS und MEMS verwendet werden. Dazu gehören z.B.: die Messung von Mikrospiegel-Planaritäten, Mikrospiegel-Vorauslenkungen, Planarität von Ultraschallwandlermembranen, Messung von Grubentiefen in Silizium bei hohen Aspektverhältnissen, sowie die Bestimmung der Ebenheit und Rauheit …