Hakusi Pyyhkäisyelektronimikroskoopit
Löydettyjen hälytysten määrä: 15

FORNITURA DI UN MICROSCOPIO ELETTRONICO

GARA EUROPEA A PROCEDURA APERTA PER LA FORNITURA DI UN MICROSCOPIO ELETTRONICO FORNITURA DI UN MICROSCOPIO ELETTRONICO A SCANSIONE A EMISSIONE DI CAMPO (FESEM) AD ULTRA-ALTA RISOLUZIONE PER ANALISI IN ALTO VUOTO E PRESSIONE VARIABILE

CPV: 38511100 Pyyhkäisyelektronimikroskoopit
Teloituspaikka:
FORNITURA DI UN MICROSCOPIO ELETTRONICO
Myöntävä elin:
Università degli Studi di Roma Tor Vergata
Myöntämisnumero:
1
Julkaisu:
27. maaliskuuta 2025 kello 3.36
Aquisição de 1 (um) Microscópio Eletrónico de Varrimento, para o Laboratório Associado CICECO – Instituto de Materiais de Aveiro da Universidade de Aveiro

Aquisição de 1 (um) Microscópio Eletrónico de Varrimento, para o Laboratório Associado CICECO – Instituto de Materiais de Aveiro da Universidade de Aveiro Aquisição de 1 (um) Microscópio Eletrónico de Varrimento, para o Laboratório Associado CICECO – Instituto de Materiais de Aveiro da Universidade de Aveiro

CPV: 38511100 Pyyhkäisyelektronimikroskoopit
Teloituspaikka:
Aquisição de 1 (um) Microscópio Eletrónico de Varrimento, para o Laboratório Associado CICECO – Instituto de Materiais de Aveiro da Universidade de Aveiro
Myöntävä elin:
Universidade de Aveiro
Myöntämisnumero:
1
Julkaisu:
27. maaliskuuta 2025 kello 2.51
Skaneeriv elektronmikroskoop

Energiadispersiivse röntgen-mikroanalüsaatoriga varustatud skaneeriv elektronmikroskoop Energiadispersiivse röntgen-mikroanalüsaatoriga varustatud skaneeriv elektronmikroskoop

CPV: 38511100 Pyyhkäisyelektronimikroskoopit
Teloituspaikka:
Skaneeriv elektronmikroskoop
Myöntävä elin:
Tallinna Tehnikaülikool
Myöntämisnumero:
290090
Julkaisu:
22. maaliskuuta 2025 kello 1.27
Rasterkraftmikroskop (AFM)

Rasterkraftmikroskop (AFM) Beschafft wird ein Rasterkraftmikroskop (AFM; engl. Atomic Force Microscope) mit einem Scanbereich in x- und y-Richtung von mind. 90µm für die Charakterisierung von Topologien im speziellen im Kontext von elektrischen Halbleiterbauteilen. Das Gerät ist als integraler Bestandteil des halbleitertechnologischen Reinraums des Forschungsgebäudes INCYTE der Naturwissenschaftlich-Technischen Fakultät der Universität …

CPV: 38000000 Laboratoriolaitteet, optiset ja tarkkuuslaitteet (lukuun ottamatta silmälaseja), 38511100 Pyyhkäisyelektronimikroskoopit
Teloituspaikka:
Rasterkraftmikroskop (AFM)
Myöntävä elin:
Universität Siegen
Myöntämisnumero:
02-NL25E1OV
Julkaisu:
18. maaliskuuta 2025 kello 4.46
Sistema di telepatologia

Indizione Procedura aperta per la stipula di una “Convenzione triennale per la fornitura in locazione inclusive service di Sistemi di Telepatologia per le AA.SS. della Regione Toscana – CUI 2023-022-0006” Sistema per Telepatologia

CPV: 38511100 Pyyhkäisyelektronimikroskoopit
Määräaika:
30. huhtikuuta 2025 kello 16.00
Määräajan tyyppi:
Tarjouksen jättäminen
Teloituspaikka:
Sistema di telepatologia
Myöntävä elin:
ESTAR - Ente di Supporto Tecnico Amministrativo Regionale
Myöntämisnumero:
1
Julkaisu:
15. maaliskuuta 2025 kello 2.24