Hakusi Pyyhkäisyelektronimikroskoopit
Löydettyjen hälytysten määrä: 14

Un microscope électronique à balayage en série

L'EPFL a l'intention d'acquérir un microscope électronique à balayage en série conçu pour l'imagerie à haute résolution de coupes minces en série et la microscopie électronique à balayage en série (SBF-SEM). Le système doit inclure un ultramicrotome facilement démontable pour l'automatisation des coupes et de l'imagerie en série. Ce microscope …

CPV: 38511100 Pyyhkäisyelektronimikroskoopit
Määräaika:
16. kesäkuuta 2025 kello 23.59
Määräajan tyyppi:
Tarjouksen jättäminen
Teloituspaikka:
Un microscope électronique à balayage en série
Myöntävä elin:
EPFL-Scientific Equipment
Myöntämisnumero:
Julkaisu:
8. toukokuuta 2025 kello 5.34
FOURNITURE D’UN MICROSCOPE ELECTRONIQUE A BALAYAGE

Microscope électronique à balayage (MEB) compatible avec le domaine de la microélectronique et à installer dans un environnement de salle blanche ISO6 Microscope électronique à balayage (MEB) compatible avec le domaine de la microélectronique et à installer dans un environnement de salle blanche ISO6

CPV: 38511100 Pyyhkäisyelektronimikroskoopit
Määräaika:
27. kesäkuuta 2025 kello 16.00
Määräajan tyyppi:
Tarjouksen jättäminen
Teloituspaikka:
FOURNITURE D’UN MICROSCOPE ELECTRONIQUE A BALAYAGE
Myöntävä elin:
Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives
Myöntämisnumero:
B25-01068
Julkaisu:
30. huhtikuuta 2025 kello 5.05
Raith Electron-Beam Lithography Hardware and Software upgrade

This voluntary ex-ante transparency VEAT notice acknowledges that Trinity College Dublin intends to award a contract to EM Systems Support Ltd., Media House, London Road, Adlington, Cheshire, SK10 4NL, United Kingdom. The contract is for the refurbishment and upgrade of the Raith Laser Interferometer Stage (LIS) located in CRANN, Naughton …

CPV: 38511100 Pyyhkäisyelektronimikroskoopit
Teloituspaikka:
Raith Electron-Beam Lithography Hardware and Software upgrade
Myöntävä elin:
Trinity College Dublin the University of Dublin_336
Myöntämisnumero:
TCD-25-C1978
Julkaisu:
30. huhtikuuta 2025 kello 4.45
Avviso di indagine di mercato per verifica unicità fornitore ex art. 76 c. 2 lett. b) del D.Lgs. n. 36/2023 - fornitura di un microscopio elettronico a scansione SEM

Avviso di indagine di mercato per verifica unicità fornitore ex art. 76 c. 2 lett. b) del D.Lgs. n. 36/2023 - fornitura di un microscopio elettronico a scansione SEM Avviso di indagine di mercato per verifica unicità fornitore ex art. 76 c. 2 lett. b) del D.Lgs. n. 36/2023 - …

CPV: 38511100 Pyyhkäisyelektronimikroskoopit
Teloituspaikka:
Avviso di indagine di mercato per verifica unicità fornitore ex art. 76 c. 2 lett. b) del D.Lgs. n. 36/2023 - fornitura di un microscopio elettronico a scansione SEM
Myöntävä elin:
UNIVERSITA' DEGLI STUDI DI MILANO - BICOCCA - Area Infrastrutture e Approvvigionamenti
Myöntämisnumero:
Julkaisu:
30. huhtikuuta 2025 kello 4.41