Teie otsing Skaneerivad elektronmikroskoobid
Leitud hoiatusteadete arv: 16

Zeiss GeminiSEM 460 with Volutome

Electron Microscopy Unit (EMBI) is acquiring an automated serial block face scanning electron microscope (SBF-SEM) suitable especially for large volumes and broad variety of specimen types. The new system will replace the aged system, which has been the most used instrument of the unit, used in numerous high-profile projects and …

CPV: 38511100 Skaneerivad elektronmikroskoobid
Täitmise koht:
Zeiss GeminiSEM 460 with Volutome
Auhindade andmise asutus:
University of Helsinki
Auhinna number:
529956
Väljaanne:
mär. 28, 2025, 3:01 e.l.
FORNITURA DI UN MICROSCOPIO ELETTRONICO

GARA EUROPEA A PROCEDURA APERTA PER LA FORNITURA DI UN MICROSCOPIO ELETTRONICO FORNITURA DI UN MICROSCOPIO ELETTRONICO A SCANSIONE A EMISSIONE DI CAMPO (FESEM) AD ULTRA-ALTA RISOLUZIONE PER ANALISI IN ALTO VUOTO E PRESSIONE VARIABILE

CPV: 38511100 Skaneerivad elektronmikroskoobid
Täitmise koht:
FORNITURA DI UN MICROSCOPIO ELETTRONICO
Auhindade andmise asutus:
Università degli Studi di Roma Tor Vergata
Auhinna number:
1
Väljaanne:
mär. 27, 2025, 3:36 e.l.
Aquisição de 1 (um) Microscópio Eletrónico de Varrimento, para o Laboratório Associado CICECO – Instituto de Materiais de Aveiro da Universidade de Aveiro

Aquisição de 1 (um) Microscópio Eletrónico de Varrimento, para o Laboratório Associado CICECO – Instituto de Materiais de Aveiro da Universidade de Aveiro Aquisição de 1 (um) Microscópio Eletrónico de Varrimento, para o Laboratório Associado CICECO – Instituto de Materiais de Aveiro da Universidade de Aveiro

CPV: 38511100 Skaneerivad elektronmikroskoobid
Täitmise koht:
Aquisição de 1 (um) Microscópio Eletrónico de Varrimento, para o Laboratório Associado CICECO – Instituto de Materiais de Aveiro da Universidade de Aveiro
Auhindade andmise asutus:
Universidade de Aveiro
Auhinna number:
1
Väljaanne:
mär. 27, 2025, 2:51 e.l.
Skaneeriv elektronmikroskoop

Energiadispersiivse röntgen-mikroanalüsaatoriga varustatud skaneeriv elektronmikroskoop Energiadispersiivse röntgen-mikroanalüsaatoriga varustatud skaneeriv elektronmikroskoop

CPV: 38511100 Skaneerivad elektronmikroskoobid
Täitmise koht:
Skaneeriv elektronmikroskoop
Auhindade andmise asutus:
Tallinna Tehnikaülikool
Auhinna number:
290090
Väljaanne:
mär. 22, 2025, 1:27 e.l.
Rasterkraftmikroskop (AFM)

Rasterkraftmikroskop (AFM) Beschafft wird ein Rasterkraftmikroskop (AFM; engl. Atomic Force Microscope) mit einem Scanbereich in x- und y-Richtung von mind. 90µm für die Charakterisierung von Topologien im speziellen im Kontext von elektrischen Halbleiterbauteilen. Das Gerät ist als integraler Bestandteil des halbleitertechnologischen Reinraums des Forschungsgebäudes INCYTE der Naturwissenschaftlich-Technischen Fakultät der Universität …

CPV: 38000000 Laboriseadmed, optika- ja täppisinstrumendid (v.a klaasid), 38511100 Skaneerivad elektronmikroskoobid
Täitmise koht:
Rasterkraftmikroskop (AFM)
Auhindade andmise asutus:
Universität Siegen
Auhinna number:
02-NL25E1OV
Väljaanne:
mär. 18, 2025, 4:46 e.l.
Sistema di telepatologia

Indizione Procedura aperta per la stipula di una “Convenzione triennale per la fornitura in locazione inclusive service di Sistemi di Telepatologia per le AA.SS. della Regione Toscana – CUI 2023-022-0006” Sistema per Telepatologia

CPV: 38511100 Skaneerivad elektronmikroskoobid
Tähtaeg:
apr. 30, 2025, 4 p.l.
Tähtaja tüüp:
Pakkumise esitamine
Täitmise koht:
Sistema di telepatologia
Auhindade andmise asutus:
ESTAR - Ente di Supporto Tecnico Amministrativo Regionale
Auhinna number:
1
Väljaanne:
mär. 15, 2025, 2:24 e.l.