Předmětem veřejné zakázky je dodávka nového (tj. nepoužitého) systému pro výzkum krystalografických struktur anorganických, organických a polymerních materiálů za různých teplot identifikací fází, měřením krystalinity, stanovením velikosti krystalitů a analýzou povrchové struktury. Systém pro rentgenové analýzy bude určený zejména pro výzkum makromolekulárních organických látek jako jsou polymerní/anorganické kompozity, nanočástice, mikrovlákna, …

The Walther-Meißner-Institute will acquire an X-ray/Ultraviolet Photoelectron Spectroscopy (XPS/UPS) system for the characterization of metallic, semiconducting, and insulating thin films, and bulk materials. This includes the characterization of substrate surfaces, characterization of oxide layers by measuring the chemical shift and valence state, determining the oxide layer thickness using angle-resolved XPS, …