Teie otsing Elektronmikroskoobid
Leitud hoiatusteadete arv: 14

Ultrafast Time-resolved Scanning Electron Microscopy Spectroscopic Platform

Das ISTA beabsichtigt den Kauf eines ultraschnellen Rasterelektronenmikroskop (REM) für zeitaufgelöste Spektroskopie im Nanobereich. Aufgrund der Komplexität des Systems ist ein All-in-One-Design erforderlich. Nähere Infos im Anhang ersichtlich. Lieferung eines Elektronen Mikroskops - SEM Spectrographic Platform

CPV: 38511000 Elektronmikroskoobid
Täitmise koht:
Ultrafast Time-resolved Scanning Electron Microscopy Spectroscopic Platform
Auhindade andmise asutus:
Institute of Science and Technology Austria
Auhinna number:
2025101
Väljaanne:
aug. 13, 2025, 5:45 e.l.
Achiziția de dotări laboratoare, prevăzute în contractul de finanțare „Dotarea cu mobilier, materiale didactice și echipamente digitale a unităților de învățământ preuniversitar din Sectorul 2” LOT1 - LOT 7

Contractul este unul de furnizare de produse având ca scop dotarea laboratoarelor din cadrul unităţilor de învăţământ preuniversitare din Sectorul 2. Valoarea estimată totală este de 2.368.220, 98 lei fără T.V.A., procedura fiind împărțită în 7 loturi, după cum urmează: Nr. Lot Denumire lot Valoare estimată fără TVA 1 Truse …

CPV: 39162100 Õppetarvikud, 33793000 Laborites kasutatavad klaastooted, 38000000 Laboriseadmed, optika- ja täppisinstrumendid (v.a klaasid), 38500000 Kontrolli- ja katseaparatuur, 38511000 Elektronmikroskoobid, 38570000 Reguleerimis- ja juhtimisseadmed ja aparaadid
Täitmise koht:
Achiziția de dotări laboratoare, prevăzute în contractul de finanțare „Dotarea cu mobilier, materiale didactice și echipamente digitale a unităților de învățământ preuniversitar din Sectorul 2” LOT1 - LOT 7
Auhindade andmise asutus:
Sectorul 2 al Municipiului Bucuresti
Auhinna number:
8
Väljaanne:
aug. 9, 2025, 1:18 e.l.
Scanning Electron Microscope

Instrument to be purchased is a Scanning Electron Microscope (SEM) for 200 mm standard wafer compatibility. An automated measurement over entire wafer is required. Also, EDS detector and 3D metrology are required. The instrument shall include standard back scattered electrons and secondary electrons detectors as well as cathodoluminescence detector. The …

CPV: 38511000 Elektronmikroskoobid
Täitmise koht:
Scanning Electron Microscope
Auhindade andmise asutus:
Itä-Suomen yliopisto
Auhinna number:
402/02.07.02/2025
Väljaanne:
aug. 7, 2025, 7:25 e.l.
Acquisition, livraison, et mise en service d’un micromanipulateur de particules micrométriques pour le compte de UMR7590 - Institut de Minéralogie, de Physique des Matériaux et de Cosmochimie (IMPMC)

Le projet C3E (Conservation et Exploitation de la collection Concordia) rassemble différentes équipes de recherche d’Ile de France (IMPMC, IJCLab, IPGP) autour d’un programme de conservation et d’analyse de poussières interplanétaires, en particulier la Collection de micrométéorites CONCORDIA. Ce programme a pour but d’équiper l’IMPMC d’instruments pour analyser les particules …

CPV: 31712100 Mikroelektroonilised masinad ja aparaadid, 38511000 Elektronmikroskoobid
Täitmise koht:
Acquisition, livraison, et mise en service d’un micromanipulateur de particules micrométriques pour le compte de UMR7590 - Institut de Minéralogie, de Physique des Matériaux et de Cosmochimie (IMPMC)
Auhindade andmise asutus:
CNRS DELEGATION PARIS-CENTRE
Auhinna number:
2025_AOO_Micromanipulateur_UMR7590
Väljaanne:
aug. 5, 2025, 8:53 e.l.