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FORNITURA DI UN MICROSCOPIO ELETTRONICO

GARA EUROPEA A PROCEDURA APERTA PER LA FORNITURA DI UN MICROSCOPIO ELETTRONICO FORNITURA DI UN MICROSCOPIO ELETTRONICO A SCANSIONE A EMISSIONE DI CAMPO (FESEM) AD ULTRA-ALTA RISOLUZIONE PER ANALISI IN ALTO VUOTO E PRESSIONE VARIABILE

CPV: 38511100 Microscopios electrónicos de barrido
Lugar de ejecución:
FORNITURA DI UN MICROSCOPIO ELETTRONICO
Organismo adjudicador:
Università degli Studi di Roma Tor Vergata
Número de premio:
1
Publicación:
27 de marzo de 2025 a las 03:36
Aquisição de 1 (um) Microscópio Eletrónico de Varrimento, para o Laboratório Associado CICECO – Instituto de Materiais de Aveiro da Universidade de Aveiro

Aquisição de 1 (um) Microscópio Eletrónico de Varrimento, para o Laboratório Associado CICECO – Instituto de Materiais de Aveiro da Universidade de Aveiro Aquisição de 1 (um) Microscópio Eletrónico de Varrimento, para o Laboratório Associado CICECO – Instituto de Materiais de Aveiro da Universidade de Aveiro

CPV: 38511100 Microscopios electrónicos de barrido
Lugar de ejecución:
Aquisição de 1 (um) Microscópio Eletrónico de Varrimento, para o Laboratório Associado CICECO – Instituto de Materiais de Aveiro da Universidade de Aveiro
Organismo adjudicador:
Universidade de Aveiro
Número de premio:
1
Publicación:
27 de marzo de 2025 a las 02:51
Skaneeriv elektronmikroskoop

Energiadispersiivse röntgen-mikroanalüsaatoriga varustatud skaneeriv elektronmikroskoop Energiadispersiivse röntgen-mikroanalüsaatoriga varustatud skaneeriv elektronmikroskoop

CPV: 38511100 Microscopios electrónicos de barrido
Lugar de ejecución:
Skaneeriv elektronmikroskoop
Organismo adjudicador:
Tallinna Tehnikaülikool
Número de premio:
290090
Publicación:
22 de marzo de 2025 a las 01:27
Rasterkraftmikroskop (AFM)

Rasterkraftmikroskop (AFM) Beschafft wird ein Rasterkraftmikroskop (AFM; engl. Atomic Force Microscope) mit einem Scanbereich in x- und y-Richtung von mind. 90µm für die Charakterisierung von Topologien im speziellen im Kontext von elektrischen Halbleiterbauteilen. Das Gerät ist als integraler Bestandteil des halbleitertechnologischen Reinraums des Forschungsgebäudes INCYTE der Naturwissenschaftlich-Technischen Fakultät der Universität …

CPV: 38000000 Equipo de laboratorio, óptico y de precisión (excepto gafas), 38511100 Microscopios electrónicos de barrido
Lugar de ejecución:
Rasterkraftmikroskop (AFM)
Organismo adjudicador:
Universität Siegen
Número de premio:
02-NL25E1OV
Publicación:
18 de marzo de 2025 a las 04:46
Sistema di telepatologia

Indizione Procedura aperta per la stipula di una “Convenzione triennale per la fornitura in locazione inclusive service di Sistemi di Telepatologia per le AA.SS. della Regione Toscana – CUI 2023-022-0006” Sistema per Telepatologia

CPV: 38511100 Microscopios electrónicos de barrido
Plazo:
30 de abril de 2025 a las 16:00
Tipo de plazo:
Presentación de una oferta
Lugar de ejecución:
Sistema di telepatologia
Organismo adjudicador:
ESTAR - Ente di Supporto Tecnico Amministrativo Regionale
Número de premio:
1
Publicación:
15 de marzo de 2025 a las 02:24