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FORNITURA DI UN MICROSCOPIO ELETTRONICO

GARA EUROPEA A PROCEDURA APERTA PER LA FORNITURA DI UN MICROSCOPIO ELETTRONICO FORNITURA DI UN MICROSCOPIO ELETTRONICO A SCANSIONE A EMISSIONE DI CAMPO (FESEM) AD ULTRA-ALTA RISOLUZIONE PER ANALISI IN ALTO VUOTO E PRESSIONE VARIABILE

CPV: 38511100 Elektronrastermikroskoper
Henrettelsessted:
FORNITURA DI UN MICROSCOPIO ELETTRONICO
Tildelende organ:
Università degli Studi di Roma Tor Vergata
Tildelingsnummer:
1
Udgivelse:
27. marts 2025 03:36
Aquisição de 1 (um) Microscópio Eletrónico de Varrimento, para o Laboratório Associado CICECO – Instituto de Materiais de Aveiro da Universidade de Aveiro

Aquisição de 1 (um) Microscópio Eletrónico de Varrimento, para o Laboratório Associado CICECO – Instituto de Materiais de Aveiro da Universidade de Aveiro Aquisição de 1 (um) Microscópio Eletrónico de Varrimento, para o Laboratório Associado CICECO – Instituto de Materiais de Aveiro da Universidade de Aveiro

CPV: 38511100 Elektronrastermikroskoper
Henrettelsessted:
Aquisição de 1 (um) Microscópio Eletrónico de Varrimento, para o Laboratório Associado CICECO – Instituto de Materiais de Aveiro da Universidade de Aveiro
Tildelende organ:
Universidade de Aveiro
Tildelingsnummer:
1
Udgivelse:
27. marts 2025 02:51
Skaneeriv elektronmikroskoop

Energiadispersiivse röntgen-mikroanalüsaatoriga varustatud skaneeriv elektronmikroskoop Energiadispersiivse röntgen-mikroanalüsaatoriga varustatud skaneeriv elektronmikroskoop

CPV: 38511100 Elektronrastermikroskoper
Henrettelsessted:
Skaneeriv elektronmikroskoop
Tildelende organ:
Tallinna Tehnikaülikool
Tildelingsnummer:
290090
Udgivelse:
22. marts 2025 01:27
Rasterkraftmikroskop (AFM)

Rasterkraftmikroskop (AFM) Beschafft wird ein Rasterkraftmikroskop (AFM; engl. Atomic Force Microscope) mit einem Scanbereich in x- und y-Richtung von mind. 90µm für die Charakterisierung von Topologien im speziellen im Kontext von elektrischen Halbleiterbauteilen. Das Gerät ist als integraler Bestandteil des halbleitertechnologischen Reinraums des Forschungsgebäudes INCYTE der Naturwissenschaftlich-Technischen Fakultät der Universität …

CPV: 38000000 Laboratorieudstyr, optisk udstyr og præcisionsudstyr (ikke briller), 38511100 Elektronrastermikroskoper
Henrettelsessted:
Rasterkraftmikroskop (AFM)
Tildelende organ:
Universität Siegen
Tildelingsnummer:
02-NL25E1OV
Udgivelse:
18. marts 2025 04:46
Sistema di telepatologia

Indizione Procedura aperta per la stipula di una “Convenzione triennale per la fornitura in locazione inclusive service di Sistemi di Telepatologia per le AA.SS. della Regione Toscana – CUI 2023-022-0006” Sistema per Telepatologia

CPV: 38511100 Elektronrastermikroskoper
Frist:
30. april 2025 16:00
Type af frist:
Afgivelse af et tilbuddet
Henrettelsessted:
Sistema di telepatologia
Tildelende organ:
ESTAR - Ente di Supporto Tecnico Amministrativo Regionale
Tildelingsnummer:
1
Udgivelse:
15. marts 2025 02:24