3D LIT-OBIRCH system (IMWS-2.1) +Scanning Electron Microscope with ultrafast e-beam operation (IMWS-3.1 ) 3D LIT-OBIRCH system (IMWS-2.1) +Scanning Electron Microscope with ultrafast e-beam operation (IMWS-3.1 ) Das Fraunhofer-Institut für Mikrostruktur von Werkstoffen und Systemen IMWS erforscht das Anwendungsverhalten, die Zuverlässigkeit, Sicherheit und Lebensdauer innovativer Materialien in Komponenten und Systemen. Der …
Microscope électronique à balayage (MEB) compatible avec le domaine de la microélectronique et à installer dans un environnement de salle blanche ISO6 Microscope électronique à balayage (MEB) compatible avec le domaine de la microélectronique et à installer dans un environnement de salle blanche ISO6
This voluntary ex-ante transparency VEAT notice acknowledges that Trinity College Dublin intends to award a contract to EM Systems Support Ltd., Media House, London Road, Adlington, Cheshire, SK10 4NL, United Kingdom. The contract is for the refurbishment and upgrade of the Raith Laser Interferometer Stage (LIS) located in CRANN, Naughton …
Avviso di indagine di mercato per verifica unicità fornitore ex art. 76 c. 2 lett. b) del D.Lgs. n. 36/2023 - fornitura di un microscopio elettronico a scansione SEM Avviso di indagine di mercato per verifica unicità fornitore ex art. 76 c. 2 lett. b) del D.Lgs. n. 36/2023 - …
3D LIT-OBIRCH system (IMWS-2.1) +Scanning Electron Microscope with ultrafast e-beam operation (IMWS-3.1 ) 3D LIT-OBIRCH system (IMWS-2.1) +Scanning Electron Microscope with ultrafast e-beam operation (IMWS-3.1 ) Das Fraunhofer-Institut für Mikrostruktur von Werkstoffen und Systemen IMWS erforscht das Anwendungsverhalten, die Zuverlässigkeit, Sicherheit und Lebensdauer innovativer Materialien in Komponenten und Systemen. Der …
Precise ion beam based trenching tool (IMWS-03.2) + high performance Ga-FIB sample preparation (IMWS-08.1) + high performance analyical SEM inspection (IMWS-08.2) Precise ion beam based trenching tool (IMWS-03.2) + high performance Ga-FIB sample preparation (IMWS-08.1) + high performance analyical SEM inspection (IMWS-08.2) Los 1: Precise ion beam based trenching tool …
Según se indica en la memoria justificativa de las especificaciones técnicas, en la memoria justificativa de la necesidad de contratar, y en el pliego de prescripciones técnicas. Según se indica en la memoria justificativa de las especificaciones técnicas, en la memoria justificativa de la necesidad de contratar, y en el …
MICROSCOPIO A FASCIO IONICO FOCALIZZATO (FIB) COMBINATO CON UN MICROSCOPIO ELETTRONICO A SCANSIONE (SEM), di seguito indicato come MICROSCOPIO FIB-SEM, per effettuare le seguenti attività principali: - osservazione a risoluzione nanometrica di micro e nanostrutture mediante immagini di elettroni secondari, retrodiffusi e trasmessi; - realizzazione completa e anche assistita da …
UCDOPP5437 - UCD Wishes to Purchase a Micro Particle Imaging Velcoimetry Microscope UCDOPP5437 - UCD Wishes to Purchase a Micro Particle Imaging Velcoimetry Microscope
procedura di gara aperta da aggiudicare con il criterio dell’offerta economicamente più vantaggiosa, ai sensi degli artt. 71 e 108, comma 1, del D. Lgs. n. 36/2023 e s.m.i., articolata in n. 2 lotti, per l’affidamento del contratto di appalto avente ad oggetto la Fornitura di n. 2 attrezzature scientifiche …