Le CEA-Leti désire s’équiper d’un instrument de métrologie par spectroscopie de photoélectrons X (XPS) pour le contrôle en ligne de l’épaisseur, de la composition et des états de liaisons de matériaux déposés en couches minces pour les nœuds technologiques 10 nm et en-deçà. Cet équipement sera installé en salle blanche …

4.1. Pirkimų procedūrose, kurios bus organizuojamos KVS pagrindu, numatoma įsigyti – Apskaitos įrenginius, kurių detalios techninės specifikacijos bus pateikiamos kartu su kvietimu dalyvauti konkrečių Pirkimų procedūrose. 4.2. KVS skirstoma į 8 kategorijas: 4.2.1. I kategorija - Karšto vandens apskaitos prietaisai 14.801.000,00 (keturiolika milijonų aštuoni šimtai vienas tūkstantis eurų); 4.2.2. II …