Вашето търсене на Йонни микроскопи
Брой намерени сигнали: 1

Systém skenovacej elektrónovej mikroskopie (SEM) vybavený FIB, 3D-EBSD, 3D-EDS detektormi a Spektrometrom na súčasné meranie spektier pre rôzne energie, za účelom analýzy ľahkých kovových prvkov vrátane lítia (Li)

Predmetom zákazky je dodávka, inštalácia a zaškolenie pre prácu, vrátane aplikačného školenia, na zostave skenovacej elektrónovej mikroskopie pozostávajúcej z FIB-SEM mikroskopu s iónovým zväzkom, vybaveným analytickými metódami EDS, EBSD a spektrometrom na súčasné meranie spektier pre rôzne energie. Zariadenie je obstarávané v rámci projektu s názvom „Vývoj a dizajn udržateľných …

CPV: 38511100 Електронни сканиращи микроскопи (с подвижен електронен лъч), 38512100 Йонни микроскопи
Краен срок:
Септ. 12, 2025, 10 преди обяд
Вид на крайния срок:
Подаване на оферта
Място на изпълнение:
Systém skenovacej elektrónovej mikroskopie (SEM) vybavený FIB, 3D-EBSD, 3D-EDS detektormi a Spektrometrom na súčasné meranie spektier pre rôzne energie, za účelom analýzy ľahkých kovových prvkov vrátane lítia (Li)
Издаващ орган:
Ústav materiálového výskumu Slovenskej akadémie vied, verejná výskumná inštitúcia
Номер на наградата:
539 470
Публикация:
Септ. 3, 2025, 2:04 преди обяд